參數(shù)資料
型號： 5962R0722402VYC
廠商： ATMEL CORP
元件分類： 微控制器/微處理器
英文描述： SPECIALTY MICROPROCESSOR CIRCUIT, PQFP256
封裝： QFP-256
文件頁數(shù)： 93/155頁
文件大?。?/td> 4139K
代理商： 5962R0722402VYC
42
7703D–AERO–12/09
AT697F PRELIMINARY INFORMATION
PR
ELI
MINA
R
Y
IN
FOR
M
AT
IO
N
Figure 28. Memory Organization when EDAC enabled
data1 byte0
data1 byte1
data1 byte2
data1 byte3
data2 byte0
data2 byte1
data2 byte2
data2 byte3
checksum2
checksum1
Co
rre
spo
nd
ing
Ch
eck
sum
0x00000007
0x00000006
0x00000005
0x00000004
0x00000003
0x00000002
0x00000001
0x00000000
0x0FFFFFFF
0x0FFFFFFE
memory top address
Note In addition, only byte-writes shall be performed to ROM area when the EDAC is enabled. In
this case, only the corresponding byte are written.
EDAC testing
The operation of the EDAC can be tested trough the MCFG3 memory configuration register.
Figure 29.
Dat
a
Bus
Memory Configuration Reg.
MCFG3
CB[7:0]
8
EDAC
8
TCB
WB
RB
EDAC testing overview
Write test
If the write bypass MCFG3
WB is set logical one, the value of the test checksum from the
MCFG3 TCB field replaces the normal checkbits during memory write transactions.
Read test
During memory read transactions, if the read bypass MCFG3 RB is set logical one, the mem-
ory checkbits of the loaded data is stored to the test checkbit MCFG3 TCB.
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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5962R9215311VTX 32K X 8 STANDARD SRAM, 55 ns, CDFP36
5962G9215309VMX 32K X 8 STANDARD SRAM, 55 ns, CDIP28
5962F9215315VMC 32K X 8 STANDARD SRAM, 70 ns, CDIP28
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參數(shù)描述
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