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參數(shù)資料
| 型號： | ARM610 |
| 廠商： | Mitel Networks Corporation |
| 英文描述： | General Purpose 32-Bit Microprocessor with 4kByte Cache,Write Buffer and Memory Management Unit(通用32位微處理器（帶4K字節(jié)緩存，寫緩沖器和存儲器管理單元）) |
| 中文描述： | 通用32位微處理器4KB的高速緩存，寫緩沖器和存儲器管理單元（通用32位微處理器（帶4K的字節(jié)緩存，寫緩沖器和存儲器管理單元）） |
| 文件頁數(shù)： | 136/174頁 |
| 文件大小： | 694K |
| 代理商： | ARM610 |
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Boundary-Scan Test Interface
ARM610 Data Sheet
11-2
11.1 Introduction
The boundary-scan interface conforms to IEEE Std. 1149.1- 1990,
Access Port and Boundary-Scan Architecture
of the terms used in this section and for a description of the TAP controller states.
Standard Test
. Please refer to this for an explanation
11.2 Overview
The boundary-scan interface provides a means of testing the core of the device when
it is fitted to a circuit board, and a means of driving and sampling all the external pins
of the device irrespective of the core state. This latter function permits testing of both
the device's electrical connections to the circuit board, and (in conjunction with other
devices on the circuit board having a similar interface) testing the integrity of the circuit
board connections between devices. The interface intercepts all external connections
within the device, and each such “cell” is then connected together to form a serial
register (the boundary-scan register). The whole interface is controlled via five
dedicated pins:
TDI
,
TMS
,
TCK
,
nTRST
and
(TAP) controller state transitions
shows the state transitions that occur in the TAP
controller.
TDO
.
·
Figure 11-1: Test Access Port
Figure 11-1: Test Access Port (TAP) controller state transitions
Select-IR-Scan
Capture-IR
tms=0
Shift-IR
tms=0
Exit1-IR
tms=1
Pause-IR
tms=0
Exit2-IR
tms=1
Update-IR
tms=1
tms=0
tms=0
tms=1
tms=1
tms=0
Select-DR-Scan
Capture-DR
tms=0
Shift-DR
tms=0
Exit1-DR
tms=1
Pause-DR
tms=0
Exit2-DR
tms=1
Update-DR
tms=1
Test-Logic Reset
Run-Test/Idle
tms=0
tms=1
tms=0
tms=0
tms=0
tms=1
tms=1
tms=0
tms=1
tms=1
tms=1
tms=1
tms=1
tms=0
tms=0
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