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參數(shù)資料
| 型號： | EP7211 |
| 廠商： | Cirrus Logic, Inc. |
| 英文描述： | HIGH-PERFORMANCE ULTRA-LOW-POWER SYSTEM-ON-CHIP WITH LCD CONTROLLER |
| 中文描述： | 高性能超低功耗系統(tǒng)與LCD控制器芯片 |
| 文件頁數(shù)： | 152/166頁 |
| 文件大?。?/td> | 2623K |
| 代理商： | EP7211 |
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EP7211
High-Performance Ultra-Low-Power System-on-Chip with LCD Controller
152
Test Modes
DS352PP3
JUL 2001
signals shown in
Table 7-3. Software Selectable Test Functionality
are multiplexed out of the
device on port pins.
This test is not intended to be used when LCD DMA accesses are enabled. This is due to the fact that
it is possible to have internal peripheral bus activity simultaneously with a DMA transfer. This would
cause bus contention to occur on the external bus.
The
‘
Waited clock to CPU
’
is an internally ANDed source that generates the actual CPU clock. Thus,
it is possible to know exactly when the CPU is being clocked by viewing this pin.
The signals
NFIQ
and
NIRQ
are the two output signals from the internal interrupt controller. They
are input directly into the ARM720T processor.
Table 7-3. Software Selectable Test Functionality
Signal
I/O
Pin
Function
CLK
O
PE0
Waited clock to CPU
NFIQ
O
PE1
NFIQ interrupt to CPU
NIRQ
O
PE2
NIRQ interrupt to CPU
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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