- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄378406 > ARM7TDMI (LSI Corporation) 32-Bit Advanced RISC Machines(ARM) Microprocessor Core(32位ARM微處理器內(nèi)核芯片) PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號： | ARM7TDMI |
| 廠商： | LSI Corporation |
| 英文描述： | 32-Bit Advanced RISC Machines(ARM) Microprocessor Core(32位ARM微處理器內(nèi)核芯片) |
| 中文描述： | 32位先進RISC機器公司（ARM）的微處理器核心（32位ARM的微處理器內(nèi)核芯片） |
| 文件頁數(shù)： | 133/208頁 |
| 文件大?。?/td> | 2420K |
| 代理商： | ARM7TDMI |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁當前第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁第201頁第202頁第203頁第204頁第205頁第206頁第207頁第208頁
Test Data Registers
8-23
8.9.5.5 Scan Chain 3
Purpose –
Allows ARM7TDMI to control an external boundary scan
chain.
Length –
User-defined length.
Scan chain 3 is provided so that an optional external boundary scan
chain may be controlled through the core. Typically this would be used
for a scan chain around the pad ring of a packaged device. The following
control signals are provided which are generated only when scan chain
3 has been selected. These outputs are inactive at all other times.
In addition to these control outputs, SDINBS output and SDOUTBS input
are also provided. When an external scan chain is in use, SDOUTBS
should be connected to the serial data output and SDINBS should be
connected to the serial data input.
DRIVEBS
This would be used to switch the scan cells from
system mode to test mode. This signal is
asserted whenever either the INTEST, EXTEST,
CLAMP or CLAMPZ instruction is selected.
PCLKBS
This is an update clock, generated in the
Update-DR state. Typically the value scanned into
a chain would be transferred to the cell output on
the rising edge of this signal.
ICAPCLKBS, ECAPCLKBS
These are capture clocks used to sample data
into the scan cells during INTEST and EXTEST
respectively. These clocks are generated in the
Capture-DR state.
SHCLKBS, SHCLK2BS
These are nonoverlapping clocks generated in the
Shift-DR state used to clock the master and slave
element of the scan cells respectively. When the
state machine is not in the Shift-DR state, both
these clocks are LOW.
nHIGHZ
This signal may be used to drive the outputs of
the scan cells to the high impedance state. This
signal is driven LOW when the HIGHZ instruction
is loaded into the instruction register, and HIGH at
all other times.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| ART10012T | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| ART10015T | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| ART2812T | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| ART28XXT | 28V Input, Triple Output / HYBRID - HIGH RELIABILITY RADIATION HARDENED DC/DC CONVERTER |
| AS115-61 | GaAs IC SP4T Non-Reflective Switch DC-2 GHz |
相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| ARM7TDMI_G | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Technical Reference Manual |
| ARM7TDMI-S | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:周立功的中文ARM7TDI文檔 |
| ARM920T | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:System-on-Chip Platform OS Processor |
| ARM940T | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:TECHNICAL REFERENCE MANUAL |
| ARM946E-S | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:ARM946E-S Microprocessor Core with Cache technical manual 6/01 |
發(fā)布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復。