- 您現在的位置：買賣IC網 > PDF目錄374668 > S5935QF (APPLIEDMICRO INC) PCI 5V Bus Master/Target Device 32-bit PDF資料下載
參數資料
| 型號： | S5935QF |
| 廠商： | APPLIEDMICRO INC |
| 元件分類： | 總線控制器 |
| 英文描述： | PCI 5V Bus Master/Target Device 32-bit |
| 中文描述： | PCI BUS CONTROLLER, PQFP160 |
| 封裝： | PLASTIC, QFP-160 |
| 文件頁數： | 41/190頁 |
| 文件大?。?/td> | 748K |
| 代理商： | S5935QF |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁當前第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁
3-33
PCI CONFIGURATION REGISTERS
S5935
BUILT-IN SELF-TEST REGISTER (BIST)
Register Name:
Address Offset:
Power-up value:
Boot-load:
Built-in Self-Test
0Fh
00h
External nvRAM/EPROM
offset 04Fh
D7, D5-0 Read Only, D6 as
PCI bus write only
8 bits
Attribute:
Size:
The Built-In Self-Test (BIST) register permits the
implementation of custom, user-specific diagnostics.
This register has four fields as depicted in Figure 10.
Bit 7, when set signifies that this device supports a
built-in self test. When bit 7 is set, writing a 1 to bit 6
will commence the self test. In actuality, writing a 1 to
bit 6 produces an interrupt to the Add-On interface.
Bit 6 will remain set until cleared by a write operation
to this register from the Add-On bus interface. When
bit 6 is reset it is interpreted as completion of the self-
test and an error is indicated by a non-zero value for
the completion code (bits 3:0).
Figure 10. Built-In Self Test Register
Table 21. Built-In Self-Test Register
Bit
Description
7
BIST Capable. This bit indicates that the Add-On device supports a built-in self-test when a one is
returned. A zero should be returned if this self test feature is not desired. This field is read only
from the PCI interface.
6
Start BIST. Writing a 1 to this bit indicates that the self-test should commence. This bit can only be
written when bit 7 is a 1. When bit 6 becomes set, an interrupt is issued to the Add-On interface. Other
than through the reset pin, Bit 6 can only be cleared by a write to this element from the Add-On bus
interface as outlined in Section 6.5. The PCI bus specification requires that this bit be cleared within
2 seconds after being set, or the device will be failed.
5:4
Reserved. These bits are reserved. This field will always return zeros.
3:0
Completion Code. This field provides a method for detailing a device-specific error. It is considered
valid when the Start BIST field (bit 6) changes from 1 to 0. An all-zero value for the completion code
indicates successful completion.
7
0
X
1
X
2
X
3
X
4
0
5
0
6
0
X
Bit
Value
User defined
Completion Code (RO)
Reserved (RO)
Start BIST (WO)
BIST Capable (RO)
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| S5990-01 | POSITION SENSITIVE DETECTOR |
| S5629-01 | POSITION SENSITIVE DETECTOR |
| S5629-02 | POSITION SENSITIVE DETECTOR |
| S5991-01 | POSITION SENSITIVE DETECTOR |
| S5629 | POSITION SENSITIVE DETECTOR |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
| S5935QRC | 制造商:AppliedMicro 功能描述:PCI Master Device 160-Pin PQFP |
| S5935TF | 制造商:AMCC 制造商全稱:Applied Micro Circuits Corporation 功能描述:PCI 5V Bus Master/Target Device 32-bit |
| S5935TFC | 制造商:AMCC 制造商全稱:Applied Micro Circuits Corporation 功能描述:PCI Product |
| S593T | 制造商:VISHAY 制造商全稱:Vishay Siliconix 功能描述:MOSMIC for TV-Tuner Prestage with 5 V Supply Voltage |
| S593T_08 | 制造商:VISHAY 制造商全稱:Vishay Siliconix 功能描述:MOSMIC? for TV-Tuner Prestage with 5 V Supply Voltage |
發(fā)布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復。