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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | GT28F320D18B120 |
| 英文描述： | x16 Flash EEPROM |
| 中文描述： | x16閃存EEPROM |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 59/83頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 836K |
| 代理商： | GT28F320D18B120 |
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28F320D18
Product Preview
55
8.5
AC I/O Test Conditions
0672_21
NOTE:
AC test inputs are driven at 1.65 V for a Logic "1" and 0.0 V for a Logic "0." Input timing begins, and
output timing ends, at V
CCQ
/2. Input rise and fall times (10% to 90%) < 5 ns. Worst case speed
conditions are when V
CC
= 1.65 V.
0672_22
NOTE:
See table for component values.
Test configuration component value for worst case speed conditions
NOTE:
C
L
includes jig capacitance.
Figure 21. AC Input/Output Reference Waveform
V
CCQ
0V
V
CCQ
/2
V
CCQ
/2
Test Points
Input
Output
Figure 22. Transient Equivalent Testing Load Circuit
Device
Under Test
V
CCQ
C
L
R
2
R
1
Out
Test Configuration
C
L
(pF)
R
1
(
)
R
2
(
)
1.8 V Standard Test
50
16.7K
16.7K
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PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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| GT28F320S3-120 | 制造商:INTEL 制造商全稱(chēng):Intel Corporation 功能描述:WORD-WIDE FlashFile MEMORY FAMILY |
| GT28F320W18BC60 | 制造商:INTEL 制造商全稱(chēng):Intel Corporation 功能描述:Intel? Wireless Flash Memory |
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