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參數(shù)資料
| 型號： | SP37E760-MC |
| 廠商： | STANDARD MICROSYSTEMS CORP |
| 元件分類： | 外設(shè)及接口 |
| 英文描述： | 3.3 V I/O CONTROLLER FOR EMBEDDED APPLICATIONS |
| 中文描述： | MULTIFUNCTION PERIPHERAL, PQFP100 |
| 封裝： | QFP-100 |
| 文件頁數(shù)： | 61/78頁 |
| 文件大?。?/td> | 510K |
| 代理商： | SP37E760-MC |
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SMSC DS – SP37E760
Page 61
Rev. 04/13/2001
PARAMETER
SYMBOL
MIN
TYP
MAX
UNITS
COMMENTS
O4 Type Buffer
Low Output Level
High Output Level
Output Leakage
V
OL
V
OH
I
OL
2.4
-10
0.4
+10
V
V
μA
I
OL
= 4mA
I
OH
= -2mA
V
IN
= 0 to V
cc
(Note 1)
OD12 Type Buffer
Low Output Level
Output Leakage
V
OL
I
OL
-10
0.4
+10
V
μA
I
OL
= 12 mA
V
IN
= 0 to V
cc
(Note 1)
Supply Current Active
Supply Current Standby
I
CC
I
CSBY
I
IL
15
20
100
mA
μA
All outputs open.
Note 3
ChiProtect
(SLCT, PE, BUSY, nACK,
nERROR)
±10
μA
Chip in circuit:
V
CC
= 0V
V
IN
= 5.5V Max.
Chip in circuit:
V
CC
= 0V
V
IN
= 5.5V Max.
Backdrive Protect
(nSLCTIN, nINIT, nAUTOFD,
nSTROBE, PD[7:0])
I
IL
±10
μA
Note 1:
Output leakage is measured with the current pins in high impedance as defined by the PWRGD pin.
Note 2:
Output leakage is measured with the low driving output off, either for a high level output or a high impedance
state defined by PWRGD.
Note 3:
Defined by the device configuration with the PWRGD input low.
CAPACITANCE T
A
= 25°C; fc = 1MHz; V
CC
= 3.3V
Table 55 - Clock Pin Loading
PARAMETER
SYMBOL
LIMITS
MIN
Clock Input Capacitance
C
IN
UNIT
TEST CONDITION
TYP
MAX
20
All pins except pin
under test tied to AC
ground
pF
Input Capacitance
Output Capacitance
C
IN
C
OUT
10
20
pF
pF
Table 56 - Capacitive Loading per Output Pin
SIGNAL NAME
TOTAL CAPACITANCE (pF)
SD[0:7]
IOCHRDY
IRQs
DRQs
TXD
nRTS
nDTR
PD[7:0]
nSLCTIN
nINIT
240
240
120
120
100
100
100
240
240
240
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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