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參數(shù)資料
| 型號： | DS26303LN-75+A3 |
| 廠商： | Maxim Integrated Products |
| 文件頁數(shù)： | 72/101頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC LIU E1/T1/J1 3.3V 144-ELQFP |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 1 |
| 類型： | 線路接口裝置（LIU） |
| 驅(qū)動(dòng)器/接收器數(shù)： | 8/8 |
| 規(guī)程： | T1/E1/J1 |
| 電源電壓： | 3.135 V ~ 3.465 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 144-LQFP 裸露焊盤 |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 144-LQFP 裸露焊盤 |
| 包裝： | 托盤 |
| 其它名稱： | 90-26303+7N3 |
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DS26303: 3.3V, T1/E1/J1, Short-Haul, Octal Line Interface Unit
72 of 101
7 JTAG BOUNDARY SCAN ARCHITECTURE AND TEST ACCESS PORT
The DS26303 IEEE 1149.1 design supports the standard instruction codes SAMPLE/PRELOAD, BYPASS, and
EXTEST. Optional public instructions included are HIGHZ, CLAMP, and IDCODE. The DS26303 contains the
following as required by IEEE 1149.1 Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture:
Test Access Port (TAP)
TAP Controller
Instruction Register
Bypass Register
Boundary Scan Register
Device Identification Register
Details on Boundary Scan Architecture and the Test Access Port can be found in IEEE 1149.1-1990, IEEE
1149.1a-1993, and IEEE 1149.1b-1994. The Test Access Port has the necessary interface pins: JTRSTB, TCLK,
JTMS, JTDI, and JTDO. See the pin descriptions for details. For the latest BSDL file go to
www.maxim-ic.com/tools/bsdl/ and search for DS26303.
Figure 7-1. JTAG Functional Block Diagram
+V
INSTRUCTION
REGISTER
JTD1
JTMS
TCLK
JTRSTB
JTDO
+V
TEST ACCESS PORT
CONTROLLER
MUX
10k
Ω
10k
Ω
SELECT
OUTPUT ENABLE
10k
Ω
BYPASS REGISTER
IDENTIFICATION
REGISTER
BOUNDARY SCAN
REGISTER
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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| DS26303LN-XXX+ | 制造商:DALLAS 制造商全稱:Dallas Semiconductor 功能描述:3.3V, E1/T1/J1, Short-Haul, Octal Line Interface Unit |
| DS26303L-XXX | 制造商:DALLAS 制造商全稱:Dallas Semiconductor 功能描述:3.3V, E1/T1/J1, Short-Haul, Octal Line Interface Unit |
| DS26303L-XXX+ | 制造商:DALLAS 制造商全稱:Dallas Semiconductor 功能描述:3.3V, E1/T1/J1, Short-Haul, Octal Line Interface Unit |
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