參數(shù)資料
型號(hào): DSF10K
廠商: Altera Corporation
英文描述: EMBEDDED PROGRAMMABLE LOGIC FAMILY
中文描述: 嵌入式可編程邏輯系列
文件頁(yè)數(shù): 43/138頁(yè)
文件大?。?/td> 2116K
代理商: DSF10K
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Altera Corporation
43
FLEX 10K Embedded Programmable Logic Family Data Sheet
Generic Testing
Each FLEX 10K device is functionally tested. Complete testing of each
configurable SRAM bit and all logic functionality ensures 100
%
yield.
AC test measurements for FLEX 10K devices are made under conditions
equivalent to those shown in
Figure 19
. Multiple test patterns can be used
to configure devices during all stages of the production flow.
Figure 19. FLEX 10K AC Test Conditions
Operating
Conditions
Tables 17
through
21
provide information on absolute maximum ratings,
recommended operating conditions, DC operating conditions, and
capacitance for 5.0-V FLEX 10K devices.
VCC
To Test
System
C1 (includes
JIG capacitance)
Device input
rise and fall
times < 3 ns
Device
Output
250
(8.06 k
)
[481
]
464
(703
)
[521
]
Power supply transients can affect AC
measurements. Simultaneous transitions of
multiple outputs should be avoided for
accurate measurement. Threshold tests must
not be performed under AC conditions.
Large-amplitude, fast-ground-current
transients normally occur as the device
outputs discharge the load capacitances.
When these transients flow through the
parasitic inductance between the device
ground pin and the test system ground,
significant reductions in observable noise
immunity can result. Numbers without
parentheses are for 5.0-V devices or outputs.
Numbers in parentheses are for 3.3-V devices
or outputs. Numbers in brackets are for
2.5-V devices or outputs.
Table 17. FLEX 10K 5.0-V Device Absolute Maximum Ratings
Note (1)
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Max
Unit
V
CC
V
I
I
OUT
T
STG
T
AMB
T
J
Supply voltage
DC input voltage
DC output current, per pin
Storage temperature
Ambient temperature
Junction temperature
With respect to ground
(2)
–2.0
–2.0
–25
–65
–65
7.0
7.0
25
150
135
150
135
V
V
mA
° C
° C
° C
° C
No bias
Under bias
Ceramic packages, under bias
PQFP, TQFP, RQFP, and BGA
packages, under bias
相關(guān)PDF資料
PDF描述
DSF11060SG55 16 Characters x 4 Lines, 5x7 Dot Matrix Character and Cursor
DSF11060SG56 16 Characters x 4 Lines, 5x7 Dot Matrix Character and Cursor
DSF11060SG Fast Recovery Diode
DSF11060SG58 Fast Recovery Diode
DSF11060SG60 Fast Recovery Diode
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參數(shù)描述
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