- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄9968 > IDT82P2521BH (IDT, Integrated Device Technology Inc)IC LIU E1 21+1CH SHORT 640-PBGA PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號(hào)： | IDT82P2521BH |
| 廠商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件頁數(shù)： | 21/147頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC LIU E1 21+1CH SHORT 640-PBGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 5 |
| 類型： | 線路接口裝置（LIU） |
| 規(guī)程： | E1 |
| 電源電壓： | 3.135 V ~ 3.465 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 640-BGA 裸露焊盤 |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 640-PBGA-EP（31x31） |
| 包裝： | 托盤 |
| 其它名稱： | 82P2521BH |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁當(dāng)前第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁
IDT82P2521
21(+1) CHANNEL HIGH-DENSITY E1 LINE INTERFACE UNIT
JTAG
117
December 7, 2005
6JTAG
The IDT82P2521 supports the digital Boundary Scan Specification
as described in the IEEE 1149.1 standards.
The boundary scan architecture consists of data and instruction
registers plus a Test Access Port (TAP) controller. The control of the TAP
is achieved through signals applied to the Test Mode Select (TMS) and
Test Clock (TCK) input pins. Data is shifted into the registers via the Test
Data Input (TDI) pin, and shifted out of the registers via the Test Data
Output (TDO) pin. Both TDI and TDO are clocked at a rate determined
by TCK.
The JTAG boundary scan registers include BSR (Boundary Scan
Register), DIR (Device Identification Register), BR (Bypass Register)
and IR (Instruction Register). These will be described in the following
pages. Refer to Figure-47 for architecture.
Figure-47 JTAG Architecture
6.1
JTAG INSTRUCTION REGISTER (IR)
The IR with instruction decode block is used to select the test to be
executed or the data register to be accessed or both.
The instructions include: EXTEST, SAMPLE/PRELOAD, IDCODE,
BYPASS, CLAMP and HIGHZ.
6.2
JTAG DATA REGISTER
6.2.1
DEVICE IDENTIFICATION REGISTER (IDR)
The IDR can be set to define the Version, the Part Number, the
Manufacturer Identity and a fixed bit.
6.2.2
BYPASS REGISTER (BYP)
The BYP consists of a single bit. It can provide a serial path between
the TDI input and the TDO output. Bypassing the BYR will reduce test
access times.
6.2.3
BOUNDARY SCAN REGISTER (BSR)
The bidirectional ports interface to 2 boundary scan cells:
- In cell: The input cell is observable only.
- Out cell: The output cell is controllable and observable.
6.3
TEST ACCESS PORT (TAP) CONTROLLER
The TAP controller is a 16-state synchronous state machine. The
states include: Test Logic Reset, Run-Test/Idle, Select-DR-Scan,
Capture-DR, Shift-DR, Exit1-DR, Pause-DR, Exit2-DR, Update-DR,
Select-IR-Scan, Capture-IR, Shift-IR, Exit1-IR, Pause-IR, Exit2-IR and
Update-IR.
Figure-48 shows the state diagram. Note that the figure contains two
main branches to access either the data or instruction registers. The
value shown next to each state transition in this figure states the value
present at TMS at each rising edge of TCK.
BSR (Boundary Scan Register)
DIR (Device Identification Register)
BR (Bypass Register)
IR (Instruction Register)
MUX
TDO
TDI
TCK
TMS
TRST
Control
MUX
Select
Output Enable
TAP
(Test Access
Port) Controller
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| IDT72V3652L15PQF | IC BI FIFO 4096X36 15NS 132QFP |
| V48B12M250B3 | CONVERTER MOD DC/DC 12V 250W |
| V48B12M250B2 | CONVERTER MOD DC/DC 12V 250W |
| IDT72V3652L15PF | IC BI FIFO 4096X36 15NS 120QFP |
| IDT82V2088DR | IC LIU T1/J1/E1 8CH 208-TQFP |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| IDT82P2521BHBLANK | 制造商:IDT 制造商全稱:Integrated Device Technology 功能描述:21(1) Channel High-Density E1 Line Interface Unit |
| IDT82P2521BHG | 功能描述:IC LIU E1 21+1CH SHORT 640-PBGA RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 驅(qū)動(dòng)器，接收器，收發(fā)器 系列:- 標(biāo)準(zhǔn)包裝:250 系列:- 類型:收發(fā)器 驅(qū)動(dòng)器/接收器數(shù):2/2 規(guī)程:RS232 電源電壓:3 V ~ 5.5 V 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:16-TSSOP（0.173"，4.40mm 寬） 供應(yīng)商設(shè)備封裝:16-TSSOP 包裝:帶卷 (TR) |
| IDT82P2521BHGBLANK | 制造商:IDT 制造商全稱:Integrated Device Technology 功能描述:21(1) Channel High-Density E1 Line Interface Unit |
| IDT82P2808 | 制造商:IDT 制造商全稱:Integrated Device Technology 功能描述:8(+1) Channel High-Density T1/E1/J1 Line Interface Unit |
| IDT82P2808BB | 功能描述:IC LIU T1/J1/E1 8+1CH 416-PBGA RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 驅(qū)動(dòng)器，接收器，收發(fā)器 系列:- 標(biāo)準(zhǔn)包裝:1,000 系列:- 類型:收發(fā)器 驅(qū)動(dòng)器/接收器數(shù):2/2 規(guī)程:RS232 電源電壓:3 V ~ 5.5 V 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:16-SOIC（0.295"，7.50mm 寬） 供應(yīng)商設(shè)備封裝:16-SOIC 包裝:帶卷 (TR) |
發(fā)布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復(fù)。