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參數(shù)資料
| 型號： | AMIS-53000 |
| 英文描述： | Frequency Agile Transceiver |
| 中文描述： | 捷變頻收發(fā)器 |
| 文件頁數(shù)： | 93/99頁 |
| 文件大小： | 2638K |
| 代理商： | AMIS-53000 |
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AMIS-53000
Frequency Agile Transceiver
Data Sheet
9.2.4. PLL Test Modes
This register is used for factory testing of the AMIS-53000 and has no user functions.
9.2.5. Power Down RF Sections
This register is used for factory testing of the AMIS-53000 and has no user functions.
9.2.6. Analog Test Mode
Digital Pad Test:
All digital pads except system clock out, and xInterrupt are 1mA I/O with pull ups and Schmitt triggers. The
SYSclock and xInterrupt pads are 2mA outputs.
Auto Increment Disable:
This disables the automatic incrementing of the I
2
C register addresses. It can allow repeated writes
to the same register, useful for adjusting a parameter to optimize its value.
Table 114: Analog Test Mode - 0X47 [71]
Bit
Name
State
1
0
1
0
1
0
1
0
1
0
1
0
Comment
Enable the test mode for determination of capacitance trim value
Enable the ADC1 input channel as a direct input to the data filter
Normal operation
Override the brown-out POR to allow test at any voltage
Address increment disabled (IIC only)
Ignore crystal control (digital clock gating)
Enabled:
Input
SSSN
DClock
DSSN
xBurst
Disabled
Enabled:
Input
Doptional
xBurst
RXTX
Disabled
7
CAP_TRIM
6
Pipe ADC1 to Data
Filter
5
Brown-Out Power
Down
4
Auto Increment
Disable
3
2
Ignore XTAL Control
Enabled:
Corresponding output
Doptional
RXTX
xINT
sysClk
1
1
Dig Pad Test A
0
Enabled:
Corresponding output
SSSN
xINT
DSSN
1
0
Dig Pad Test B
0
9.2.7. RF Test Modes
This register is used for factory testing of the AMIS-53000 and has no user functions.
9.2.8. Analog Test MUX
This register is used for factory testing of the AMIS-53000 and has no user functions.
93
AMI Semiconductor
– Aug. 05, Rev. 1.0
www.amis.com
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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參數(shù)描述 |
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