參數(shù)資料
型號(hào)： W78E354P
廠商： WINBOND ELECTRONICS CORP
元件分類： 微控制器/微處理器
英文描述： MONITOR MICROCONTROLLER
中文描述： 8-BIT, FLASH, 20 MHz, MICROCONTROLLER, PQCC68
封裝： PLASTIC, LCC-68
文件頁(yè)數(shù)： 8/45頁(yè)
文件大?。?/td> 430K
代理商： W78E354P
W78E354
- 8 -
Pin Description, continued
PIN NO.
68P 64P 48P 40P
PIN
NAME
I/O
TYPE
TEST
NAME
FUNCTIONAL DESCRIPTION
44
45
53
55
64
1
2
42
43
51
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
P4.0
P4.1
P4.2
P4.3
P4.4
P4.5
P4.6
O/P
-
-
-
-
-
-
-
Output port (Latch output).
Sink/Source current 2 mA/-2 mA.
25
26
23
24
17
18
15
16
H
IN
V
IN
I/P
OE
CE
H
IN
: Hsync/Composite sync input.
V
IN
: Vsync input.
Schmitt trigger I/P.
With Internal high value pull-down (about 200 K
).
No PMOS ESD diode.
---------------------------------------------------------
* In the Flash/RAM-test mode
(when the chip is in reset state):
H
IN
: OE input.
V
IN
: CE input.
27
28
25
26
19
20
17
18
H
OUT
V
OUT
I/O
OECTRL
PROG
H
OUT
: Hsync output.
V
OUT
: Vsync output with internal weak pull-up (above 200
K
).
Sink/Source current 4 mA/-4 mA.
---------------------------------------------------------
* In the Flash/RAM-test mode
(when the chip is in reset state):
H
OUT
: OECTRL input.
V
OUT
: PROG input.
33
31
24
22
RESET
I/P
-
Reset the controller (active low).
Schmitt trigger I/P.
With internal pull-up (about 30 K
).
41
39
28
24
TestCLK
I/P
EA
Clock input while in internal (glue logic's) function test.
With internal pull-up (about 30 K
).
---------------------------------------------------------
* If the EA (TestCLK) pin is pulled low when the chip is
being reset, and remains low for at least 24 clock periods
after the reset, the CPU will execute from the external
program memory regardless of the PC value. i.e., the CPU is
forced to enter the
functional test mode
.
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