VDD = 5 V
參數(shù)資料
型號(hào)： ADUC841BSZ62-5
廠商： Analog Devices Inc
文件頁數(shù)： 34/88頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC ADC/DAC 12BIT W/MCU 52-MQFP
產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： Process Control
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1
系列： MicroConverter® ADuC8xx
核心處理器： 8052
芯體尺寸： 8-位
速度： 20MHz
連通性： I²C，SPI，UART/USART
外圍設(shè)備： DMA，PSM，PWM，溫度傳感器，WDT
輸入/輸出數(shù)： 32
程序存儲(chǔ)器容量： 62KB（62K x 8）
程序存儲(chǔ)器類型： 閃存
RAM 容量： 2.25K x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 4.75 V ~ 5.25 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 8x12b，D/A 2x12b
振蕩器型： 內(nèi)部
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 52-QFP
包裝： 托盤
產(chǎn)品目錄頁面： 738 (CN2011-ZH PDF)
配用： EVAL-ADUC841QSZ-ND - KIT DEV FOR ADUC841 QUICK START
ADuC841/ADuC842/ADuC843
Rev. 0 | Page 4 of 88
Parameter
VDD = 5 V
VDD = 3 V
Unit
Test Conditions/Comments
DAC AC CHARACTERISTICS
Voltage Output Settling Time
15
s typ
Full-scale settling time to within
LSB of final value
Digital-to-Analog Glitch Energy
10
nV-sec typ
1 LSB change at major carry
DAC CHANNEL SPECIFICATIONS12, 13
Internal Buffer Disabled ADuC841/ADuC842 Only
DC ACCURACY10
Resolution
12
Bits
Relative Accuracy
±3
LSB typ
Differential Nonlinearity11
–1
LSB max
Guaranteed 12-bit monotonic
±1/2
LSB typ
Offset Error
±5
mV max
VREF range
Gain Error
±0.5
% typ
VREF range
Gain Error Mismatch4
0.5
% typ
% of full-scale on DAC1
ANALOG OUTPUTS
Voltage Range_0
0 to VREF
V typ
DAC VREF = 2.5 V
REFERENCE INPUT/OUTPUT REFERENCE OUTPUT14
Output Voltage (VREF)
2.5
V
Accuracy
±10
mV Max
Of VREF measured at the CREF pin
TA = 25°C
Power Supply Rejection
65
67
dB typ
Reference Temperature Coefficient
±15
ppm/°C typ
Internal VREF Power-On Time
2
ms typ
EXTERNAL REFERENCE INPUT15
Voltage Range (VREF) 4
1
V min
VDD
V max
Input Impedance
20
k typ
Input Leakage
1
A max
Internal band gap deselected via
ADCCON1.6
POWER SUPPLY MONITOR (PSM)
DVDD Trip Point Selection Range
2.93
3.08
V min
V max
Two trip points selectable in this
range programmed via TPD1–0 in
PSMCON, 3 V part only
DVDD Power Supply Trip Point Accuracy
±2.5
% max
WATCHDOG TIMER (WDT) 4
Timeout Period
0
2000
0
2000
ms min
ms max
Nine timeout periods selectable in
this range
FLASH/EE MEMORY RELIABILITY CHARACTERISTICS16
Endurance17
100,000
Cycles min
Data Retention18
100
Years min
DIGITAL INPUTS
Input Leakage Current (Port 0, EA)
±10
A max
VIN = 0 V or VDD
±1
A typ
VIN = 0 V or VDD
Logic 1 Input Current
(All Digital Inputs), SDATA, SCLOCK
±10
A max
VIN = VDD
±1
A typ
VIN = VDD
Logic 0 Input Current (Ports 1, 2, 3) SDATA, SCLOCK
–75
–25
A max
–40
–15
A typ
VIL = 450 mV
Logic 1 to Logic 0 Transition Current (Ports 2 and 3)
–660
–250
A max
VIL = 2 V
RESET
–400
±10
10
105
–140
±10
5
35
A typ
A max
A min
A max
VIL = 2 V
VIN = 0 V
VIN = 5 V, 3 V Internal Pull Down
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