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參數(shù)資料
| 型號： | S71AL016D02-B7 |
| 廠商： | Spansion Inc. |
| 英文描述： | Stacked Multi-Chip Product (MCP) Flash Memory and RAM |
| 中文描述： | 堆疊式多芯片產(chǎn)品（MCP）的閃存和RAM |
| 文件頁數(shù)： | 44/76頁 |
| 文件大?。?/td> | 909K |
| 代理商： | S71AL016D02-B7 |
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44
S29AL016D
S29AL016D_00_A1_E August 4, 2004
A d v a n c e I n f o r m a t i o n
Test Conditions
Figure 11. Test Setup
Table 11. Test Specifications
Test Condition
70
90
Unit
Output Load
1 TTL gate
Output Load Capacitance, C
L
(including jig capacitance)
30
100
pF
Input Rise and Fall Times
5
ns
Input Pulse Levels
0.0 or V
CC
V
Input timing measurement
reference levels
0.5 V
CC
V
Output timing measurement
reference levels
0.5 V
CC
V
2.7 k
C
L
6.2 k
3.3 V
Device
Under
Test
Note:
Diodes are IN3064 or equivalent
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PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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