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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | KFN2G16Q2M-DED6 |
| 廠商： | SAMSUNG SEMICONDUCTOR CO. LTD. |
| 英文描述： | MuxOneNAND FLASH MEMORY |
| 中文描述： | MuxOneNAND閃存 |
| 文件頁數(shù)： | 68/124頁 |
| 文件大?。?/td> | 1550K |
| 代理商： | KFN2G16Q2M-DED6 |
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MuxOneNAND1G(KFM1G16Q2M-DEB5)
MuxOneNAND2G(KFN2G16Q2M-DEB5)
FLASH MEMORY
68
An Unlocked block can be programmed or erased. The status of an unlocked block can be changed to locked or locked-tight using
the appropriate software command. (locked-tight state can be achieved via lock-tight command which follows lock command)
Only one block can be released from lock state to unlock state with Unlock command and addresses. The unlocked block can be
changed with new lock command. Therefore, each block has its own lock/unlock/lock-tight state.
Unlock Command Sequence:
Start block address+Unlock block command (0023h)
Unlocked
3.4.3.2 Locked NAND Array Write Protection State
A Locked block cannot be programmed or erased. All blocks default to a locked state following a Cold or Warm Reset. Unlocked
blocks can be changed to locked using the Lock block command. The status of a locked block can be changed to unlocked or
locked-tight using the appropriate software command.
Lock Command Sequence:
Start block address+Lock block command (002Ah)
Locked
3.4.3.1 Unlocked NAND Array Write Protection State
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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