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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | GCIXF1002EC |
| 英文描述： | Controller Miscellaneous - Datasheet Reference |
| 中文描述： | 控制器雜項(xiàng)-數(shù)據(jù)表參考 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 121/128頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 1262K |
| 代理商： | GCIXF1002EC |
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Intel
IXF1002 Dual Port Gigabit Ethernet Controller
Datasheet
121
Joint Test Action Group – Test Logic
A
This appendix describes the joint test action group (JTAG) test logic and the associated registers.
A.1
General Description
JTAG test logic supports testing, observation, and modification of circuit activity during normal
operation of the components. The IXF1002 supports the IEEE Standard 1149.1 Test Access Port
and Boundary Scan Architecture. The IXF1002 JTAG test logic allows boundary scan to be used to
test both the device and the board it is installed in. The JTAG test logic consists of the following
four signals to serially interface within the IXF1002:
tck
–
JTAG clock
tdi
–
Test data and instructions in
tdo
–
Test data and instructions out
tms
–
Test mode select
Note:
If JTAG test logic is not used, the tck pin should be connected to
“
0
”
, and both the tms and tdi pins
should be connected to
“
1
”
. The tdo signal should remain unconnected.
Note:
If JTAG logic is used, a 1149.1 ring is created by connecting one device
’
s tdo pin to another
device
’
s tdi pin and so on, to create a serial chain of devices. In this application, the IXF1002
receives the same tck and tms signals as the other devices. The entire 1149.1 ring is connected to
either a motherboard test connector for test purposes or to a resident 1149.1 controller.
A.1.1
Test Access Port Controller
The test access port (TAP) controller interprets IEEE P1149.1 protocols received on the tms pin.
The TAP controller generates clocks and control signals to control the operation of the test logic.
The TAP controller consists of a state machine and a control dispatch logic. The IXF1002 fully
implements the TAP state machine as described in the IEEE P1149.1 Standard.
A.2
Registers
In JTAG test logic, three registers are implemented in the IXF1002:
Instruction register
Bypass register
Boundary-scan register
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| GCIXF1002ED | Controller Miscellaneous - Datasheet Reference |
| GCIXF1002EDT | Controller Miscellaneous - Datasheet Reference |
| GCIXF440AC | Controller Miscellaneous - Datasheet Reference |
| GCIXF440ACT | Controller Miscellaneous - Datasheet Reference |
| GCIXP1250-166 | Microprocessor |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| GCIXF1002ED | 功能描述:IC 2PORT GIGBIT ETHNT MAC 304BGA RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 控制器 系列:- 標(biāo)準(zhǔn)包裝:4,900 系列:- 控制器類型:USB 2.0 控制器 接口:串行 電源電壓:3 V ~ 3.6 V 電流 - 電源:135mA 工作溫度:0°C ~ 70°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:36-VFQFN 裸露焊盤 供應(yīng)商設(shè)備封裝:36-QFN（6x6） 包裝:* 其它名稱:Q6396337A |
| GCIXF1002EDT | 制造商:Intel 功能描述:Ethernet CTLR Single Chip 1000Mbps 3.3V 304-Pin ESBGA |
| GCIXF1012EC.A3-884560 | 功能描述:IC ETHERNET MAC 12PORT 672-BGA RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 控制器 系列:- 標(biāo)準(zhǔn)包裝:2,450 系列:- 控制器類型:SPI 總線至 I²C 總線橋接 接口:I²C，串行，SPI 電源電壓:2.4 V ~ 3.6 V 電流 - 電源:11mA 工作溫度:-40°C ~ 85°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:24-VFQFN 裸露焊盤 供應(yīng)商設(shè)備封裝:24-HVQFN（4x4） 包裝:托盤 配用:568-3511-ND - DEMO BOARD SPI TO I2C 其它名稱:935286452157SC18IS600IBSSC18IS600IBS-ND |
| GCIXF1012ECA3 | 制造商:Cortina Systems Inc 功能描述: 制造商:Intel 功能描述: |
| GCIXF1024EC.A3-884561 | 功能描述:IC ETHERNET MAC 24PORT 672-BGA RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 控制器 系列:- 標(biāo)準(zhǔn)包裝:4,900 系列:- 控制器類型:USB 2.0 控制器 接口:串行 電源電壓:3 V ~ 3.6 V 電流 - 電源:135mA 工作溫度:0°C ~ 70°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:36-VFQFN 裸露焊盤 供應(yīng)商設(shè)備封裝:36-QFN（6x6） 包裝:* 其它名稱:Q6396337A |
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