參數資料
| 型號： | XCV1000E-8FG900C |
| 廠商： | Xilinx Inc |
| 文件頁數： | 203/233頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 1.8V C-TEMP 900-FBGA |
| 產品變化通告： | FPGA Family Discontinuation 18/Apr/2011 |
| 標準包裝： | 1 |
| 系列： | Virtex®-E |
| LAB/CLB數： | 6144 |
| 邏輯元件/單元數： | 27648 |
| RAM 位總計： | 393216 |
| 輸入/輸出數： | 660 |
| 門數： | 1569178 |
| 電源電壓： | 1.71 V ~ 1.89 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 900-BBGA |
| 供應商設備封裝： | 900-FBGA |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁第201頁第202頁當前第203頁第204頁第205頁第206頁第207頁第208頁第209頁第210頁第211頁第212頁第213頁第214頁第215頁第216頁第217頁第218頁第219頁第220頁第221頁第222頁第223頁第224頁第225頁第226頁第227頁第228頁第229頁第230頁第231頁第232頁第233頁
Virtex-E 1.8 V Field Programmable Gate Arrays
R
DS022-3 (v3.0) March 21, 2014
Module 3 of 4
Production Product Specification
11
— OBSOLETE — OBSOLETE — OBSOLETE — OBSOLETE —
Calculation of Tioop as a Function of Capacitance
Tioop is the propagation delay from the O Input of the IOB to
the pad. The values for Tioop are based on the standard
capacitive load (Csl) for each I/O standard as listed in
For other capacitive loads, use the formulas below to calcu-
late the corresponding Tioop:
Tioop = Tioop + Topadjust + (Cload – Csl) * fl
where:
Topadjust is reported above in the Output Delay
Adjustment section.
Cload is the capacitive load for the design.
Table 3: Constants for Use in Calculation of Tioop
Standard
Csl (pF)
fl (ns/pF)
LVTTL Fast Slew Rate, 2mA drive
35
0.41
LVTTL Fast Slew Rate, 4mA drive
35
0.20
LVTTL Fast Slew Rate, 6mA drive
35
0.13
LVTTL Fast Slew Rate, 8mA drive
35
0.079
LVTTL Fast Slew Rate, 12mA drive
35
0.044
LVTTL Fast Slew Rate, 16mA drive
35
0.043
LVTTL Fast Slew Rate, 24mA drive
35
0.033
LVTTL Slow Slew Rate, 2mA drive
35
0.41
LVTTL Slow Slew Rate, 4mA drive
35
0.20
LVTTL Slow Slew Rate, 6mA drive
35
0.10
LVTTL Slow Slew Rate, 8mA drive
35
0.086
LVTTL Slow Slew Rate, 12mA drive
35
0.058
LVTTL Slow Slew Rate, 16mA drive
35
0.050
LVTTL Slow Slew Rate, 24mA drive
35
0.048
LVCMOS2
35
0.041
LVCMOS18
35
0.050
PCI 33 MHZ 3.3 V
10
0.050
PCI 66 MHz 3.3 V
10
0.033
GTL
0
0.014
GTL+
0
0.017
HSTL Class I
20
0.022
HSTL Class III
20
0.016
HSTL Class IV
20
0.014
SSTL2 Class I
30
0.028
SSTL2 Class II
30
0.016
SSTL3 Class I
30
0.029
SSTL3 Class II
30
0.016
CTT
20
0.035
AGP
10
0.037
Notes:
1.
I/O parameter measurements are made with the capacitance
values shown above. See the application examples (in
Module 2 of this data sheet) for appropriate terminations.
2.
I/O standard measurements are reflected in the IBIS model
information except where the IBIS format precludes it.
Table 4: Delay Measurement Methodology
Standard
VL1
VH1
Meas.
Point
VREF
(Typ)2
LVTTL
0
3
1.4
-
LVCMOS2
0
2.5
1.125
-
PCI33_3
Per PCI Spec
-
PCI66_3
Per PCI Spec
-
GTL
VREF –0.2
VREF +0.2
VREF
0.80
GTL+
VREF –0.2
VREF +0.2
VREF
1.0
HSTL Class I
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
0.75
HSTL Class III
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
0.90
HSTL Class IV
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
0.90
SSTL3 I & II
VREF –1.0
VREF +1.0
VREF
1.5
SSTL2 I & II
VREF –0.75
VREF +0.75
VREF
1.25
CTT
VREF –0.2
VREF +0.2
VREF
1.5
AGP
VREF –
(0.2xVCCO)
VREF +
(0.2xVCCO)
VREF
Per
AGP
Spec
LVDS
1.2
–0.125
1.2 + 0.125
1.2
LVPECL
1.6
–0.3
1.6 + 0.3
1.6
Notes:
1.
Input waveform switches between VLand VH.
2.
Measurements are made at VREF (Typ), Maximum, and
Minimum. Worst-case values are reported.
I/O parameter measurements are made with the
capacitance values shown in Table 3. See the application
examples (in Module 2 of this data sheet) for appropriate
terminations.
I/O standard measurements are reflected in the IBIS model
information except where the IBIS format precludes it.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| XCV1000E-7FG900I | IC FPGA 1.8V I-TEMP 900-FGBA |
| ASM43DTBS | CONN EDGECARD 86POS R/A .156 SLD |
| AGM43DTBS | CONN EDGECARD 86POS R/A .156 SLD |
| AYM43DTAS | CONN EDGECARD 86POS R/A .156 SLD |
| IDT71V424S15YG8 | IC SRAM 4MBIT 15NS 36SOJ |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
| XCV1000E-8FG900I | 制造商:XILINX 制造商全稱:XILINX 功能描述:Virtex-E 1.8 V Field Programmable Gate Arrays |
| XCV1000E-8HQ240C | 功能描述:IC FPGA 1.8V C-TEMP 240-HQFP RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現場可編程門陣列） 系列:Virtex®-E 標準包裝:1 系列:Kintex-7 LAB/CLB數:25475 邏輯元件/單元數:326080 RAM 位總計:16404480 輸入/輸出數:350 門數:- 電源電壓:0.97 V ~ 1.03 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:0°C ~ 85°C 封裝/外殼:900-BBGA，FCBGA 供應商設備封裝:900-FCBGA（31x31） 其它名稱:122-1789 |
| XCV1000E-8HQ240I | 制造商:XILINX 制造商全稱:XILINX 功能描述:Virtex⑩-E 1.8 V Field Programmable Gate Arrays |
| XCV100-4BG256C | 功能描述:IC FPGA 2.5V C-TEMP 256-PBGA RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現場可編程門陣列） 系列:Virtex® 標準包裝:1 系列:Kintex-7 LAB/CLB數:25475 邏輯元件/單元數:326080 RAM 位總計:16404480 輸入/輸出數:350 門數:- 電源電壓:0.97 V ~ 1.03 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:0°C ~ 85°C 封裝/外殼:900-BBGA，FCBGA 供應商設備封裝:900-FCBGA（31x31） 其它名稱:122-1789 |
| XCV100-4BG256I | 功能描述:IC FPGA 2.5V I-TEMP 256-PBGA RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現場可編程門陣列） 系列:Virtex® 標準包裝:1 系列:Kintex-7 LAB/CLB數:25475 邏輯元件/單元數:326080 RAM 位總計:16404480 輸入/輸出數:350 門數:- 電源電壓:0.97 V ~ 1.03 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:0°C ~ 85°C 封裝/外殼:900-BBGA，FCBGA 供應商設備封裝:900-FCBGA（31x31） 其它名稱:122-1789 |
發(fā)布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復。