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參數(shù)資料
| 型號： | NAND04GW3C2AN6E |
| 廠商： | 意法半導(dǎo)體 |
| 英文描述： | 4Gbit, 2112 Byte Page, 3V, Multi-level NAND Flash Memory |
| 中文描述： | 4Gbit的，2112字節(jié)的頁，3V供電，多級NAND閃存 |
| 文件頁數(shù)： | 35/51頁 |
| 文件大?。?/td> | 374K |
| 代理商： | NAND04GW3C2AN6E |
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NAND04GA3C2A, NAND04GW3C2A
12 DC and AC parameters
35/51
12
DC and AC parameters
This section summarizes the operating and measurement conditions, and the DC and AC
characteristics of the device. The parameters in the DC and AC characteristics Tables that
follow, are derived from tests performed under the Measurement Conditions summarized in
Table 16: Operating and AC Measurement Conditions
. Designers should check that the
operating conditions in their circuit match the measurement conditions when relying on the
quoted parameters.
The DC and AC characteristics for V
DDQ
1.8V devices are not yet available.
Operating and AC Measurement Conditions
Capacitance
(1)
Table 16.
Parameter
NAND04GA3C2A,
NAND04GW3C2A
Units
Min
Max
Supply Voltage (V
DD
)
1.8V, V
DDQ
devices
1.7
1.95
V
3V, V
DDQ
devices
2.7
3.6
V
Ambient Temperature (T
A
)
Grade 1
0
70
°C
Grade 6
–40
85
°C
Load Capacitance (C
L
) (1 TTL GATE and C
L
)
1.8V V
DDQ
devices
30
pF
3V, V
DDQ
devices (2.7 - 3.6V)
50
pF
Input Pulses Voltages
1.8V, V
DDQ
devices
0
V
DD
V
3V, V
DDQ
devices
0.4
2.4
V
Input and Output Timing Ref. Voltages
1.8V, V
DDQ
devices
0.9
V
3V, V
DDQ
devices
1.5
V
Output Circuit Resistor R
ref
8.35
k
Input Rise and Fall Times
5
ns
Table 17.
Symbol
Parameter
Test Condition
Typ
Max
Unit
C
IN
Input Capacitance
V
IN
= 0V
10
pF
C
I/O
Input/Output Capacitance
V
IL
= 0V
10
pF
1.
T
A
= 25°C, f = 1 MHz. C
IN
and C
I/O
are not 100% tested.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| NAND128R3A2AZA1 | 128 Mbit, 256 Mbit, 512 Mbit, 1 Gbit (x8/x16) 528 Byte/264 Word Page, 1.8V/3V, NAND Flash Memories |
| NAND128W3A0AV6 | 128 Mbit, 256 Mbit, 512 Mbit, 1 Gbit (x8/x16) 528 Byte/264 Word Page, 1.8V/3V, NAND Flash Memories |
| NAND256R3A0AZB6 | 128 Mbit, 256 Mbit, 512 Mbit, 1 Gbit (x8/x16) 528 Byte/264 Word Page, 1.8V/3V, NAND Flash Memories |
| NAND128W4A0CZA6E | 128 Mbit, 256 Mbit, 512 Mbit, 1 Gbit (x8/x16) 528 Byte/264 Word Page, 1.8V/3V, NAND Flash Memories |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| NAND04GW3C2BN6E | 功能描述:IC FLASH 4GBIT 48TSOP RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 存儲器 系列:- 標準包裝:576 系列:- 格式 - 存儲器:閃存 存儲器類型:閃存 - NAND 存儲容量:512M（64M x 8） 速度:- 接口:并聯(lián) 電源電壓:2.7 V ~ 3.6 V 工作溫度:-40°C ~ 85°C 封裝/外殼:48-TFSOP（0.724"，18.40mm 寬） 供應(yīng)商設(shè)備封裝:48-TSOP 包裝:托盤 其它名稱:497-5040 |
| NAND08GAH0BZA5E | 功能描述:IC FLASH 8GBIT 52MHZ 169LFBGA RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 存儲器 系列:- 標準包裝:576 系列:- 格式 - 存儲器:閃存 存儲器類型:閃存 - NAND 存儲容量:512M（64M x 8） 速度:- 接口:并聯(lián) 電源電壓:2.7 V ~ 3.6 V 工作溫度:-40°C ~ 85°C 封裝/外殼:48-TFSOP（0.724"，18.40mm 寬） 供應(yīng)商設(shè)備封裝:48-TSOP 包裝:托盤 其它名稱:497-5040 |
| NAND08GAH0FZC5E | 功能描述:IC FLASH 8GBIT 52MHZ 153LFBGA RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 存儲器 系列:- 標準包裝:576 系列:- 格式 - 存儲器:閃存 存儲器類型:閃存 - NAND 存儲容量:512M（64M x 8） 速度:- 接口:并聯(lián) 電源電壓:2.7 V ~ 3.6 V 工作溫度:-40°C ~ 85°C 封裝/外殼:48-TFSOP（0.724"，18.40mm 寬） 供應(yīng)商設(shè)備封裝:48-TSOP 包裝:托盤 其它名稱:497-5040 |
| NAND08GAH0JZC5E | 功能描述:IC FLASH 8GBIT 52MHZ 153LFBGA RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 存儲器 系列:- 標準包裝:1,000 系列:- 格式 - 存儲器:EEPROMs - 串行 存儲器類型:EEPROM 存儲容量:4K (512 x 8) 速度:400kHz 接口:I²C，2 線串口 電源電壓:2.7 V ~ 5.5 V 工作溫度:-40°C ~ 85°C 封裝/外殼:8-SOIC（0.173"，4.40mm 寬） 供應(yīng)商設(shè)備封裝:8-MFP 包裝:帶卷 (TR) |
| NAND08GR3B4CZL6E | 制造商:Micron Technology Inc 功能描述:NAND - Trays |
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