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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | 28F160S5 |
| 廠商： | Intel Corp. |
| 英文描述： | 5 V FlashFile Memory(5 V FlashFile 存儲(chǔ)器) |
| 中文描述： | 5伏FlashFile內(nèi)存（5伏FlashFile存儲(chǔ)器） |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 43/51頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 320K |
| 代理商： | 28F160S5 |
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E
28F160S5/28F320S5
43
Output
Test Points
Input
1.5
1.5
3.0
0.0
AC test inputs are driven at 3.0 V for a Logic "1" and 0.0 V for a Logic "0." Input timing begins, and output timing ends, at 1.5 V.
Input rise and fall times (10% to 90%) <10 ns.
0609_13
Figure 13. Transient Input/Output Reference Waveform for V
CC
= 5.0 V ± 5%
(High Speed Testing Configuration)
Output
Test Points
Input
2.0
2.4
0.45
0.8
2.0
0.8
AC test inputs are driven at V
(2.4 V
) for a Logic "1" and V
(0.45 V
) for a Logic "0." Input timing begins at V
IH
(2.0 V
TTL
) and V
IL
(0.8 V
TTL
). Output timing ends at V
IH
and V
IL
. Input rise and fall times (10% to 90%) <10 ns.
0609_14
Figure 14. Transient Input/Output Reference Waveform for V
CC
= 5.0 V ± 10%
(Standard Testing Configuration)
Device
Under Test
Out
R
L
= 3.3 k
1N914
1.3 V
C
L
0609_15
NOTE:
C
L
Includes Jig Capacitance
Figure 15. Transient Equivalent Testing
Load Circuit
Test Configuration Capacitance Loading Value
Test Configuration
C
L
(pF)
V
CC
= 5.0 V
±
5%
30
V
CC
= 5.0 V
±
10%
100
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PDF描述 |
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