參數(shù)資料
型號(hào)： SN54BCT8240AJT
廠商： Texas Instruments, Inc.
英文描述： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
中文描述： 掃描測(cè)試設(shè)備與八進(jìn)制反向緩沖器
文件頁(yè)數(shù)： 3/26頁(yè)
文件大?。?/td> 473K
代理商： SN54BCT8240AJT
SN54BCT8240A, SN74BCT8240A
SCAN TEST DEVICES
WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
SCBS067E – FEBRUARY 1990 – REVISED DECEMBER 1996
3
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
functional block diagram
Boundary-Control
Register
Bypass Register
Boundary-Scan Register
Instruction Register
TDI
TMS
TCK
TDO
TAP
Controller
VCC
VCC
One of Four Channels
14
12
13
11
VCC
VCC
VCC
2A1
2Y1
19
7
VCC
24
2OE
One of Four Channels
VCC
1A1
1Y1
23
2
VCC
1
1OE
Pin numbers shown are for the DW, JT, and NT packages.
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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SN74BCT8240ANTE4 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
SN74BCT8374ANTE4 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
SN54BCT8374AFK SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
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參數(shù)描述
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