參數(shù)資料
型號： SN54BCT8240AJT
廠商： Texas Instruments, Inc.
英文描述： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
中文描述： 掃描測試設(shè)備與八進(jìn)制反向緩沖器
文件頁數(shù)： 3/26頁
文件大?。?/td> 473K
代理商： SN54BCT8240AJT
SN54BCT8240A, SN74BCT8240A
SCAN TEST DEVICES
WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
SCBS067E – FEBRUARY 1990 – REVISED DECEMBER 1996
3
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
functional block diagram
Boundary-Control
Register
Bypass Register
Boundary-Scan Register
Instruction Register
TDI
TMS
TCK
TDO
TAP
Controller
VCC
VCC
One of Four Channels
14
12
13
11
VCC
VCC
VCC
2A1
2Y1
19
7
VCC
24
2OE
One of Four Channels
VCC
1A1
1Y1
23
2
VCC
1
1OE
Pin numbers shown are for the DW, JT, and NT packages.
相關(guān)PDF資料
PDF描述
SN74BCT8240ANT SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
SN74BCT8240ANTE4 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
SN74BCT8374ANTE4 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
SN54BCT8374AFK SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
SN54BCT8374AJT SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
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參數(shù)描述
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