±VTRIP Test Circuit + – + – + – + DUT LT1719 BANDW" />
參數資料
型號: LT1719IS8#PBF
廠商: Linear Technology
文件頁數: 21/22頁
文件大小: 0K
描述: IC COMP R-RINOUT SINGLE 8-SOIC
標準包裝: 100
系列: UltraFast™
類型: 通用
元件數: 1
輸出類型: CMOS,滿擺幅,TTL
電壓 - 電源,單路/雙路(±): 2.7 V ~ 6 V
電壓 - 輸入偏移(最小值): 2.5mV @ ±5V
電流 - 輸入偏壓(最小值): 6µA @ ±5V
電流 - 輸出(標準): 20mA
電流 - 靜態(tài)(最大值): 9mA
CMRR, PSRR(標準): 70dB CMRR,80dB PSRR
傳輸延遲(最大): 4.2ns
磁滯: 7mV
工作溫度: -40°C ~ 85°C
封裝/外殼: 8-SOIC(0.154",3.90mm 寬)
安裝類型: 表面貼裝
包裝: 管件
LT1719
8
1719fa
TEST CIRCUITS
±VTRIP Test Circuit
+
+
+
+
DUT
LT1719
BANDWIDTH-LIMITED TRIANGLE WAVE
~ 1kHz, VCM ±7.5V
LTC203
1/2 LT1112
50Ω
100k
2.4k
10nF
1μF
0.15μF
1/2 LT1638
100k
200k
10k
1000 × VHYST
1000 × VTRIP
+
1000 × VTRIP
1000 × VOS
0.1μF
50Ω
50k
VCM
VCC
+
1/2 LT1112
1719 TC01
10nF
1μF
NOTES: LT1638, LT1112, LTC203s ARE POWERED FROM ±15V.
200kΩ PULL-DOWN PROTECTS LTC203 LOGIC INPUTS
WHEN DUT IS NOT POWERED
15
3
2
14
16
9
1
8
10
6
7
11
LTC203
2
14
15
3
1
8
16
9
7
11
10
6
Response Time Test Circuit
+
–3V
–100mV
1
8
7
6(6)
2
3
5
4
–5V
PULSE
IN
0V
50Ω
1N5711
400Ω
130Ω
25Ω
50Ω
+Vs – VCM
(V+ – VCM)
VCC – VCM
VEE – VCM
–VCM
50k
DUT
LT1719S8
25Ω
0.1μF
1719 TC02
10 × SCOPE PROBE
(CIN ≈ 10pF)
0.01μF
750Ω
2N3866
V1*
*V1 = –1000 (OVERDRIVE + VTRIP
+)
NOTE: RISING EDGE TEST SHOWN.
FOR FALLING EDGE, REVERSE LT1719 INPUTS
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PDF描述
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