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參數(shù)資料
| 型號： | FLEX10KE |
| 廠商： | Altera Corporation |
| 英文描述： | Embedded Programmable Logic Family |
| 中文描述： | 嵌入式可編程邏輯系列 |
| 文件頁數(shù)： | 39/114頁 |
| 文件大小： | 1422K |
| 代理商： | FLEX10KE |
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Altera Corporation
39
FLEX 10K Embedded Programmable Logic Family Data Sheet
Table 13 shows the timing parameters and values for FLEX 10K devices.
Generic Testing
Each FLEX 10K device is functionally tested. Complete testing of each
configurable SRAM bit and all logic functionality ensures 100
%
yield.
AC test measurements for FLEX 10K devices are made under conditions
equivalent to those shown in Figure 18. Multiple test patterns can be used
to configure devices during all stages of the production flow.
Figure 18. FLEX 10K AC Test Conditions
Table 13. JTAG Timing Parameters & Values
Symbol
Parameter
Min
Max
Unit
t
JCP
t
JCH
t
JCL
t
JPSU
t
JPH
t
JPCO
t
JPZX
t
JPXZ
t
JSSU
t
JSH
t
JSCO
t
JSZX
t
JSXZ
TCK
clock period
100
ns
clock high time
50
ns
TCK
clock low time
50
ns
JTAG port setup time
20
ns
JTAG port hold time
45
ns
JTAG port clock to output
25
ns
JTAG port high impedance to valid output
25
ns
JTAG port valid output to high impedance
25
ns
Capture register setup time
20
ns
Capture register hold time
45
ns
Update register clock to output
35
ns
Update register high-impedance to valid output
35
ns
Update register valid output to high impedance
35
ns
VCC
to Test
System
C1 (includes
JIG capacitance)
Device input
rise and fall
times < 3 ns
464
(703
)
[521
]
Device
Output
250
(8.06 k
)
[481
]
Power supply transients can affect AC
measurements. Simultaneous transitions of
multiple outputs should be avoided for
accurate measurement. Threshold tests must
not be performed under AC conditions.
Large-amplitude, fast-ground-current
transients normally occur as the device
outputs discharge the load capacitances.
When these transients flow through the
parasitic inductance between the device
ground pin and the test system ground,
significant reductions in observable noise
immunity can result. Numbers in parentheses
are for 3.3-V devices or outputs. Numbers
in brackets are for 2.5-V devices or outputs.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| FLEX6000 | Programmable Logic Device Family |
| FLEX8000 | PROGRAMMABLE LOGIC DEVICES FAMILY |
| FLL120MK | L-Band Medium & High Power GaAs FET |
| FLL200IB-1 | L-Band Medium & High Power GaAs FET |
| FLL200IB-2 | L-Band Medium & High Power GaAs FET |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| FLEX110 | 功能描述:開發(fā)板和工具包 - PIC / DSPIC Multibus Pack RoHS:否 制造商:Microchip Technology 產(chǎn)品:Starter Kits 工具用于評估:chipKIT 核心:Uno32 接口類型: 工作電源電壓: |
| FLEX111 | 功能描述:開發(fā)板和工具包 - PIC / DSPIC Fasttrack suite RoHS:否 制造商:Microchip Technology 產(chǎn)品:Starter Kits 工具用于評估:chipKIT 核心:Uno32 接口類型: 工作電源電壓: |
| FLEX112 | 功能描述:開發(fā)板和工具包 - PIC / DSPIC Demo2 Pack RoHS:否 制造商:Microchip Technology 產(chǎn)品:Starter Kits 工具用于評估:chipKIT 核心:Uno32 接口類型: 工作電源電壓: |
| FLEX113 | 功能描述:開發(fā)板和工具包 - 無線 Mini Kit RoHS:否 制造商:Arduino 產(chǎn)品:Evaluation Boards 工具用于評估:AT32UC3L 核心:AVR32 頻率: 接口類型:USB 工作電源電壓:5 V |
| FLEX114 | 功能描述:開發(fā)板和工具包 - PIC / DSPIC Demo2 suite RoHS:否 制造商:Microchip Technology 產(chǎn)品:Starter Kits 工具用于評估:chipKIT 核心:Uno32 接口類型: 工作電源電壓: |
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