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參數(shù)資料
| 型號： | DS33X11DK |
| 廠商： | Maxim Integrated Products |
| 文件頁數(shù)： | 298/375頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | KIT DEMO FOR DS33X11+ |
| 產(chǎn)品培訓模塊： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 標準包裝： | 1 |
| 主要目的： | 接口，以太網(wǎng) |
| 已用 IC / 零件： | DS33X11+ |
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________________________________________________ DS33X162/X161/X82/X81/X42/X41/X11/W41/W11
Rev: 063008
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13.2 Instruction Register
The instruction register contains a shift register as well as a latched parallel output and is 3 bits in length. When the
TAP controller enters the Shift-IR state, the instruction shift register is connected between JTDI and JTDO. While in
the Shift-IR state, a rising edge on JTCLK with JTMS LOW will shift the data one stage towards the serial output at
JTDO. A rising edge on JTCLK in the Exit1-IR state or the Exit2-IR state with JTMS HIGH will move the controller
to the Update-IR state. The falling edge of that same JTCLK will latch the data in the instruction shift register to the
instruction parallel output. Instructions supported by the device and its respective operational binary codes are
shown in Table 13-1.
Table 13-1. Instruction Codes for IEEE 1149.1 Architecture
INSTRUCTION
SELECTED REGISTER
INSTRUCTION CODES
SAMPLE:PRELOAD
Boundary Scan
010
BYPASS
Bypass
111
EXTEST
Boundary Scan
000
CLAMP
Bypass
011
HIGHZ
Bypass
100
IDCODE
Device Identification
001
13.2.1 SAMPLE:PRELOAD
This is a mandatory instruction for the IEEE 1149.1 specification. This instruction supports two functions. The
digital I/Os of the device can be sampled at the boundary scan register without interfering with the normal operation
of the device by using the Capture-DR state. SAMPLE:PRELOAD also allows the device to shift data into the
boundary scan register via JTDI using the Shift-DR state.
13.2.2 BYPASS
When the BYPASS instruction is latched into the parallel instruction register, JTDI connects to JTDO through the
one-bit bypass test register. This allows data to pass from JTDI to JTDO not affecting the device’s normal
operation.
13.2.3 EXTEST
This allows testing of all interconnections to the device. When the EXTEST instruction is latched in the instruction
register, the following actions occur. Once enabled via the Update-IR state, the parallel outputs of all digital output
pins are driven. The boundary scan register is connected between JTDI and JTDO. The Capture-DR will sample all
digital inputs into the boundary scan register.
13.2.4 CLAMP
All digital outputs of the device will output data from the boundary scan parallel output while connecting the bypass
register between JTDI and JTDO. The outputs will not change during the CLAMP instruction.
13.2.5 HIGHZ
All digital outputs of the device are placed in a high-impedance state. The BYPASS register is connected between
JTDI and JTDO.
13.2.6 IDCODE
When the IDCODE instruction is latched into the parallel instruction register, the identification test register is
selected. The device identification code is loaded into the identification register on the rising edge of JTCLK
following entry into the Capture-DR state. Shift-DR can be used to shift the identification code out serially via
JTDO. During Test-Logic-Reset, the identification code is forced into the instruction register’s parallel output. The
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| DS33X41+ | 功能描述:網(wǎng)絡(luò)控制器與處理器 IC Ethernet Over PDH Mapping Devices RoHS:否 制造商:Micrel 產(chǎn)品:Controller Area Network (CAN) 收發(fā)器數(shù)量: 數(shù)據(jù)速率: 電源電流（最大值）:595 mA 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:PBGA-400 封裝:Tray |
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