參數資料
型號: AT45DB161
廠商: Atmel Corp.
英文描述: 16-megabit 2.7-volt Only Serial DataFlash(16M位 2.7V串行數據閃速存儲器)
中文描述: 16兆位2.7伏,只有序列上DataFlash(1,600位為2.7V串行數據閃速存儲器)
文件頁數: 8/21頁
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代理商: AT45DB161
AT45DB161
8
DC Characteristics
Symbol
Parameter
Condition
Min
Typ
Max
Units
I
SB
Standby Current
CS, RESET, WP = V
IH
, all inputs at
CMOS levels
3
10
μA
I
CC1
Active Current, Read Operation
f = 13 MHz; I
OUT
= 0 mA; V
CC
= 3.6V
4
10
mA
I
CC2
Active Current, Program/Erase
Operation
V
CC
= 3.6V
15
35
mA
I
LI
Input Load Current
V
IN
= CMOS levels
1
μA
I
LO
Output Leakage Current
V
I/O
= CMOS levels
1
μA
V
IL
Input Low Voltage
0.6
V
V
IH
Input High Voltage
2.0
V
V
OL
Output Low Voltage
I
OL
= 1.6 mA; V
CC
= 2.7V
0.4
V
V
OH
Output High Voltage
I
OH
= -100 μA
V
CC
- 0.2V
V
AC Characteristics
Symbol
Parameter
Min
Typ
Max
Units
f
SCK
SCK Frequency
13
MHz
t
WH
SCK High Time
35
ns
t
WL
SCK Low Time
35
ns
t
CS
Minimum CS High Time
250
ns
t
CSS
CS Setup Time
250
ns
t
CSH
CS Hold Time
250
ns
t
CSB
CS High to RDY/BUSY Low
200
ns
t
SU
Data In Setup Time
10
ns
t
H
Data In Hold Time
20
ns
t
HO
Output Hold Time
0
ns
t
DIS
Output Disable Time
25
ns
t
V
Output Valid
30
ns
t
XFR
Page to Buffer Transfer/Compare Time
250
350
μs
t
EP
Page Erase and Programming Time
10
20
ms
t
P
Page Programming Time
7
15
ms
t
PE
Page Erase Time
6
10
ms
t
BE
Block Erase Time
7
15
ms
t
RST
RESET Pulse Width
10
μs
t
REC
RESET Recovery Time
1
μs
Input Test Waveforms and Measurement Levels
t
R
, t
F
< 5 ns (10% to 90%)
AC
DRIVING
LEVELS
AC
MEASUREMENT
LEVEL
0.45V
2.0
0.8
2.4V
Output Test Load
DEVICE
UNDER
TEST
30 pF
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PDF描述
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參數描述
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