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參數(shù)資料
| 型號： | SST29SF040-55-4C-WHE |
| 廠商： | SILICON STORAGE TECHNOLOGY INC |
| 元件分類： | PROM |
| 英文描述： | 2 Mbit / 4 Mbit (x8) Small-Sector Flash |
| 中文描述： | 512K X 8 FLASH 5V PROM, 55 ns, PDSO32 |
| 封裝： | 8 X 14 MM, ROHS COMPLIANT, MO-142BA, TSOP1-32 |
| 文件頁數(shù)： | 9/25頁 |
| 文件大?。?/td> | 382K |
| 代理商： | SST29SF040-55-4C-WHE |
Data Sheet
2 Mbit / 4 Mbit Small-Sector Flash
SST29SF020 / SST29SF040
SST29VF020 / SST29VF040
9
2005 Silicon Storage Technology, Inc.
S71160-13-000
10/06
TABLE
6: DC Operating Characteristics V
DD
= 2.7-3.6V for SST29VF020/040
Symbol
I
DD
Parameter
Power Supply Current
Limits
Max
Test Conditions
Address input=V
IL
/V
IH
, at f=1/T
RC
Min
V
DD
=V
DD
Max
CE#=OE#=V
IL
, WE#=V
IH
, all I/Os open
CE#=WE#=V
IL
, OE#=V
IH
CE#=V
IHC
, V
DD
=V
DD
Max
V
IN
=GND to V
DD
, V
DD
=V
DD
Max
V
OUT
=GND to V
DD
, V
DD
=V
DD
Max
V
DD
=V
DD
Min
V
DD
=V
DD
Max
V
DD
=V
DD
Max
I
OL
=100 μA, V
DD
=V
DD
Min
I
OH
=-100 μA, V
DD
=V
DD
Min
Min
Units
Read
Write
Standby V
DD
Current
Input Leakage Current
Output Leakage Current
Input Low Voltage
Input High Voltage
Input High Voltage (CMOS)
Output Low Voltage
Output High Voltage
25
30
15
1
10
0.8
mA
mA
μA
μA
μA
V
V
V
V
V
I
SB
I
LI
I
LO
V
IL
V
IH
V
IHC
V
OL
V
OH
0.7V
DD
V
DD
-0.3
0.2
V
DD
-0.2
T6.9 1160
TABLE
7: Recommended System Power-up Timings
Symbol
T
PU-READ1
T
PU-WRITE1
Parameter
Power-up to Read Operation
Power-up to Program/Erase Operation
Minimum
100
100
Units
μs
μs
1. This parameter is measured only for initial qualification and after a design or process change that could affect this parameter.
T7.1 1160
TABLE
8: Capacitance
(T
A
= 25°C, f=1 Mhz, other pins open)
Parameter
C
I/O1
C
IN1
Description
I/O Pin Capacitance
Input Capacitance
Test Condition
V
I/O
= 0V
V
IN
= 0V
Maximum
12 pF
6 pF
1. This parameter is measured only for initial qualification and after a design or process change that could affect this parameter.
T8.1 1160
TABLE
9: Reliability Characteristics
Symbol
N
END1
T
DR1
I
LTH1
Parameter
Endurance
Data Retention
Latch Up
Minimum Specification
10,000
100
100 + I
DD
Units
Cycles
Years
mA
Test Method
JEDEC Standard A117
JEDEC Standard A103
JEDEC Standard 78
1. This parameter is measured only for initial qualification and after a design or process change that could affect this parameter.
T9.2 1160
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SST29SF040-55-4I-NHE | 2 Mbit / 4 Mbit (x8) Small-Sector Flash |
| SST29SF040-55-4I-WHE | 2 Mbit / 4 Mbit (x8) Small-Sector Flash |
| SST29VF020-70-4C-NHE | 2 Mbit / 4 Mbit (x8) Small-Sector Flash |
| SST29VF020-70-4C-WHE | 2 Mbit / 4 Mbit (x8) Small-Sector Flash |
| SST29VF020-70-4I-NHE | 2 Mbit / 4 Mbit (x8) Small-Sector Flash |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| SST29SF040-55-4I-NHE | 功能描述:閃存 4M (512Kx8) 55ns Industrial Temp RoHS:否 制造商:ON Semiconductor 數(shù)據(jù)總線寬度:1 bit 存儲類型:Flash 存儲容量:2 MB 結(jié)構(gòu):256 K x 8 定時類型: 接口類型:SPI 訪問時間: 電源電壓-最大:3.6 V 電源電壓-最小:2.3 V 最大工作電流:15 mA 工作溫度:- 40 C to + 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體: 封裝:Reel |
| SST29SF040-55-4I-WHE | 功能描述:閃存 512K X 8 55ns RoHS:否 制造商:ON Semiconductor 數(shù)據(jù)總線寬度:1 bit 存儲類型:Flash 存儲容量:2 MB 結(jié)構(gòu):256 K x 8 定時類型: 接口類型:SPI 訪問時間: 電源電壓-最大:3.6 V 電源電壓-最小:2.3 V 最大工作電流:15 mA 工作溫度:- 40 C to + 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體: 封裝:Reel |
| SST29VE010-150-4C-EHE | 功能描述:閃存 1M (128K x 8) 150ns RoHS:否 制造商:ON Semiconductor 數(shù)據(jù)總線寬度:1 bit 存儲類型:Flash 存儲容量:2 MB 結(jié)構(gòu):256 K x 8 定時類型: 接口類型:SPI 訪問時間: 電源電壓-最大:3.6 V 電源電壓-最小:2.3 V 最大工作電流:15 mA 工作溫度:- 40 C to + 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體: 封裝:Reel |
| SST29VE010-150-4C-NHE | 功能描述:閃存 1M (128K x 8) 150ns RoHS:否 制造商:ON Semiconductor 數(shù)據(jù)總線寬度:1 bit 存儲類型:Flash 存儲容量:2 MB 結(jié)構(gòu):256 K x 8 定時類型: 接口類型:SPI 訪問時間: 電源電壓-最大:3.6 V 電源電壓-最小:2.3 V 最大工作電流:15 mA 工作溫度:- 40 C to + 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體: 封裝:Reel |
| SST29VE010-150-4I-NHE | 功能描述:閃存 1M (128K x 8) 150ns RoHS:否 制造商:ON Semiconductor 數(shù)據(jù)總線寬度:1 bit 存儲類型:Flash 存儲容量:2 MB 結(jié)構(gòu):256 K x 8 定時類型: 接口類型:SPI 訪問時間: 電源電壓-最大:3.6 V 電源電壓-最小:2.3 V 最大工作電流:15 mA 工作溫度:- 40 C to + 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體: 封裝:Reel |
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