參數(shù)資料
型號： MSP430X43X1
廠商： Texas Instruments, Inc.
英文描述： MIXED SIGNAL MICROCONTROLLER
中文描述： 混合信號微控制器
文件頁數(shù)： 52/73頁
文件大?。?/td> 1156K
代理商： MSP430X43X1
MSP430x43x1, MSP430x43x, MSP430x44x
MIXED SIGNAL MICROCONTROLLER
SLAS344F JANUARY 2002 REVISED MAY 2007
52
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
electrical characteristics over recommended operating free-air temperature (unless otherwise
noted) (continued)
Flash Memory
PARAMETER
TEST
CONDITIONS
V
CC
MIN
NOM
MAX
UNIT
V
CC(PGM/
ERASE)
Program and Erase supply voltage
2.7
3.6
V
f
FTG
I
PGM
I
ERASE
t
CPT
t
CMErase
Flash Timing Generator frequency
257
476
kHz
Supply current from DV
CC
during program
Supply current from DV
CC
during erase
Cumulative program time
2.7 V/ 3.6 V
3
5
mA
2.7 V/ 3.6 V
3
7
mA
see Note 1
2.7 V/ 3.6 V
10
ms
Cumulative mass erase time
see Note 2
2.7 V/ 3.6 V
200
10
4
ms
Program/Erase endurance
10
5
cycles
t
Retention
Data retention duration
T
J
= 25
°
C
100
years
t
Word
t
Block, 0
t
Block, 1-63
t
Block, End
t
Mass Erase
t
Seg Erase
NOTES:
Word or byte program time
Block program time for 1
st
byte or word
35
30
Block program time for each additional byte or word
see Note 3
21
t
FTG
Block program end-sequence wait time
6
Mass erase time
5297
Segment erase time
1. The cumulative program time must not be exceeded when writing to a 64-byte flash block. This parameter applies to all programming
methods: individual word/byte write and block write modes.
2. The mass erase duration generated by the flash timing generator is at least 11.1ms ( = 5297x1/f
FTG
,max = 5297x1/476kHz). To
achieve the required cumulative mass erase time the Flash Controller’s mass erase operation can be repeated until this time is met.
(A worst case minimum of 19 cycles are required).
3. These values are hardwired into the Flash Controller’s state machine (t
FTG
= 1/f
FTG
).
4819
JTAG Interface
PARAMETER
TEST
CONDITIONS
V
CC
MIN
NOM
MAX
UNIT
f
TCK
TCK input frequency
see Note 1
2.2 V
0
5
MHz
3 V
0
10
MHz
k
Ω
R
Internal
NOTES:
Internal pull-up resistance on TMS, TCK, TDI/TCLK
1. f
TCK
may be restricted to meet the timing requirements of the module selected.
2. TMS, TDI/TCLK, and TCK pull-up resistors are implemented in all versions.
see Note 2
2.2 V/ 3 V
25
60
90
JTAG Fuse (see Note 1)
PARAMETER
TEST
CONDITIONS
V
CC
MIN
NOM
MAX
UNIT
V
CC(FB)
V
FB
I
FB
t
FB
NOTES:
Supply voltage during fuse-blow condition
T
A
= 25
°
C
2.5
V
Voltage level on TDI/TCLK for fuse-blow: F versions
6
7
V
Supply current into TDI/TCLK during fuse blow
100
mA
Time to blow fuse
1. Once the fuse is blown, no further access to the MSP430 JTAG/Test and emulation features is possible. The JTAG block is switched
to bypass mode.
1
ms
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PDF描述
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