參數(shù)資料
型號： MC3S12P128J0CLHR
廠商： FREESCALE SEMICONDUCTOR INC
元件分類： 微控制器/微處理器
英文描述： 16-BIT, MROM, 1.05 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP64
封裝： 10 X 10 MM, 1.40 MM HEIGHT, 0.50 MM PITCH, MS-026BCD, LQFP-64
文件頁數(shù)： 472/566頁
文件大?。?/td> 7046K
代理商： MC3S12P128J0CLHR
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Electrical Characteristics
S12P-Family Reference Manual, Rev. 1.13
Freescale Semiconductor
523
NOTE
All values shown in Table A-19 are preliminary and subject to further
characterization.
A.4
Phase Locked Loop
A.4.1
Jitter Denitions
With each transition of the feedback clock, the deviation from the reference clock is measured and input
voltage to the VCO is adjusted accordingly.The adjustment is done continuously with no abrupt changes
in the VCOCLK frequency. Noise, voltage, temperature and other factors cause slight variations in the
control loop resulting in a clock jitter. This jitter affects the real minimum and maximum clock periods as
illustrated in Figure A-2.
Table A-19. NVM Reliability Characteristics
Conditions are shown in Table A-4 unless otherwise noted
Num
C
Rating
Symbol
Min
Typ
Max
Unit
Program Flash Arrays
1
C Data retention at an average junction temperature of TJavg =
85
°C(1) after up to 10,000 program/erase cycles
1. TJavg does not exceed 85°C in a typical temperature prole over the lifetime of a consumer, industrial or automotive
application.
tNVMRET
20
100(2)
2. Typical data retention values are based on intrinsic capability of the technology measured at high temperature and de-rated
to 25
°C using the Arrhenius equation. For additional information on how Freescale denes Typical Data Retention, please
refer to Engineering Bulletin EB618
—
Years
2
C Program Flash number of program/erase cycles
(-40
°C ≤ tj ≤ 150°C)
nFLPE
10K
100K(3)
3. Spec table quotes typical endurance evaluated at 25
°C for this product family. For additional information on how Freescale
denes Typical Endurance, please refer to Engineering Bulletin EB619.
—
Cycles
Data Flash Array
3
C Data retention at an average junction temperature of TJavg =
85
°C1 after up to 50,000 program/erase cycles
tNVMRET
5
1002
—
Years
4
C Data retention at an average junction temperature of TJavg =
85
°C1 after up to 10,000 program/erase cycles
tNVMRET
10
1002
—
Years
5
C Data retention at an average junction temperature of TJavg =
85
°C1 after less than 100 program/erase cycles
tNVMRET
20
1002
—
Years
6
C Data Flash number of program/erase cycles (-40
°C ≤ tj ≤ 150°C)
nFLPE
50K
500K3
—
Cycles
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PDF描述
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S9S12P128J0CFTR 16-BIT, FLASH, 1.05 MHz, MICROCONTROLLER, QCC48
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