參數(shù)資料
型號: MC14517
廠商: Motorola, Inc.
英文描述: LOW-VOLTAGE CMOS OCTAL BUFFER
中文描述: 低電壓CMOS八進制緩沖區(qū)
文件頁數(shù): 3/6頁
文件大?。?/td> 209K
代理商: MC14517
MOTOROLA CMOS LOGIC DATA
405
MC14517B
Output Rise and Fall Time
tTLH, tTHL = (1.5 ns/pF) CL + 25 ns
tTLH, tTHL = (0.75 ns/pF) CL + 12.5 ns
tTLH, tTHL = (0.65 ns/pF) CL + 9.5 ns
Propagation Delay Time
tPLH, tPHL = (1.7 ns/pF) CL + 390 ns
tPLH, tPHL = (0.66 ns/pF) CL + 177 ns
tPLH, tPHL = (0.5 ns/pF) CL + 115 ns
Clock Pulse Width
tTLH, tTHL
5.0
10
15
100
50
40
200
100
80
ns
tPLH, tPHL
5.0
10
15
475
210
140
770
300
215
ns
tWH
5.0
10
15
330
125
100
170
75
60
ns
Clock Pulse Frequency
fcl
5.0
10
15
3.0
6.7
8.3
1.5
4.0
5.3
MHz
Clock Pulse Rise and Fall Time
tTLH, tTHL
5.0
10
15
**See Note
Data to Clock Setup Time
tsu
5.0
10
15
0
10
15
– 40
– 15
0
ns
Data to Clock Hold Time
th
5.0
10
15
150
75
35
75
25
10
ns
Write Enable to Clock Setup Time
tsu
5.0
10
15
400
200
110
170
65
50
ns
Write Enable to Clock Release Time
trel
5.0
10
15
380
180
100
160
55
40
ns
*The formulas given are for the typical characteristics only at 25 C.
#Data labelled “Typ” is not to be used for design purposes but is intended as an indication of the IC’s potential performance.
** When shift register sections are cascaded, the maximum rise and fall time of the clock input should be equal to or less than the rise and fall
time of the data outputs, driving data inputs, plus the propagation delay of the output driving stage.
Figure 1. Power Dissipation Test Circuit and Waveform
CL
CL
CL
CL
CL
CL
CL
CL
VDD
Q16 Q32 Q48 Q64
Q16 Q32 Q48 Q64
VDD
VDD
VSS
VSS
D
C
WE
D
C
WE
VSS
ID
D
C
50
μ
F
REPETITIVE WAVEFORM
C
D
fo
(f = 1/2 fo)
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PDF描述
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