參數(shù)資料
型號： KIT33298DWEVB
廠商： Freescale Semiconductor
文件頁數(shù)： 2/28頁
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描述： KIT EVAL FOR MC33298 SMART SW
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1
Analog Integrated Circuit Device Data
10
Freescale Semiconductor
33298
ELECTRICAL CHARACTERISTICS
TIMING DIAGRAMS
ARCHIVE
INFORMATION
ARCHIVE
INFORMATION
TIMING DIAGRAMS
Figure 4. Input Timing Switch Characteristics
ELECTRICAL PERFORMANCE CURVES
Figure 5. Valid Data Delay Time and
Valid Time Test Circuit
Figure 6. Enable and Disable Time Test Circuit
VIH
VIL
Don't Care
0.2VDD
0.7VDD
tLAG
tR
tF
SI
tW(SCLKL)
tSI(HOLD)
tSI(su)
Valid
tW(SCLKH)
0.7VDD
0.2VDD
tLEAD
SCLK
0.2VDD
tW(RST)
RST
CS
Don't Care
Valid
VIH
VIL
VIH
VIL
VIH
VIL
VDD = 5.0V
SCLK
SO
CL = 200 pF
33298
Under
Test
CL represents the total capacitance of the test fixture and probe.
CS
SO
CL = 20pF
33298
Under
Test
VDD = 5.0V
VPull-Up = 2.5V
RL = 2.0 kΩ
CL represents the total capacitance of the test fixture and probe.
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PDF描述
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參數(shù)描述
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