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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | ISPLSI 1032E-70LTNI |
| 廠商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 12/17頁(yè) |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC PLD ISP 64I/O 15NS 100TQFP |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 90 |
| 系列： | ispLSI® 1000E |
| 可編程類型： | 系統(tǒng)內(nèi)可編程 |
| 最大延遲時(shí)間 tpd(1)： | 15.0ns |
| 電壓電源 - 內(nèi)部： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 邏輯元件/邏輯塊數(shù)目： | 32 |
| 門數(shù)： | 6000 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 64 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 100-LQFP |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 100-TQFP（14x14） |
| 包裝： | 托盤 |
| 其它名稱： | 220-1596 ISPLSI 1032E-70LTNI-ND ISPLSI1032E-70LTNI |
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4
Specifications ispLSI 1032E
USE
ispLSI
1032EA
FOR
NEW
DESIGNS
Output Load Conditions (see Figure 2)
Switching Test Conditions
TEST CONDITION
R1
R2
CL
A
470Ω
390Ω
35pF
B
∞
390Ω
35pF
470Ω
390Ω
35pF
Active High
Active Low
C
470Ω
390Ω
5pF
∞
390Ω
5pF
Active Low to Z
at V +0.5V
OL
Active High to Z
at V
-0.5V
OH
Table 2-0004/1032E
Figure 2. Test Load
+ 5V
R1
R2
CL*
Device
Output
Test
Point
*CL includes Test Fixture and Probe Capacitance.
0213a
DC Electrical Characteristics
Over Recommended Operating Conditions
VOL
SYMBOL
1. One output at a time for a maximum duration of one second. V
= 0.5V was selected to avoid test problems
by tester ground degradation. Characterized but not 100% tested.
2. Measured using eight 16-bit counters.
3. Typical values are at V = 5V and T = 25°C.
4. Maximum I
varies widely with specific device configuration and operating frequency. Refer to the Power Consumption
section of this data sheet and Thermal Management section of the Lattice Semiconductor Data Book or CD-ROM to
estimate maximum I
.
Table 2-0007/1032E
1
VOH
IIH
IIL
IIL-isp
PARAMETER
IIL-PU
IOS
2, 4
ICC
Output Low Voltage
Output High Voltage
Input or I/O High Leakage Current
Input or I/O Low Leakage Current
ispEN Input Low Leakage Current
I/O Active Pull-Up Current
Output Short Circuit Current
Operating Power Supply Current
I = 8 mA
I
= -4 mA
3.5V ≤ V ≤ V
0V ≤ V ≤ V (Max.)
0V ≤ V ≤ V
V = 5V, V
= 0.5V
V = 0.5V, V = 3.0V
f
= 1 MHz
OL
OH
IN
IL
IN
CC
IN
IL
IN
IL
CC
OUT
CLOCK
IL
IH
CONDITION
MIN.
TYP.
MAX.
UNITS
3
–
2.4
–
190
0.4
–
10
-10
-150
-200
–
V
μA
mA
CC
A
OUT
CC
Commercial
Industrial
Input Pulse Levels
Table 2-0003/1032E
Input Rise and Fall Time
10% to 90%
Input Timing Reference Levels
Output Timing Reference Levels
Output Load
GND to 3.0V
1.5V
See Figure 2
3-state levels are measured 0.5V from
steady-state active level.
-125
Others
≤ 2 ns
≤ 3 ns
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| RSM36DRTN-S13 | CONN EDGECARD 72POS .156 EXTEND |
| MIC5209-2.5BS TR | IC REG LDO 2.5V .5A SOT223 |
| MIC5207-3.3BM5 TR | IC REG LDO 3.3V .18A SOT23-5 |
| RMM36DRTN-S13 | CONN EDGECARD 72POS .156 EXTEND |
| MIC5209-2.5BS | IC REG LDO 2.5V .5A SOT223 |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| ispLSI1032E-70LTNI | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 USE ispMACH 4000V RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| ISPLSI1032E80LJ | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Electrically-Erasable Complex PLD |
| ISPLSI1032E-80LJ | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:High-Density Programmable Logic |
| ISPLSI1032E80LJI | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:In-System Programmable High Density PLD |
| ISPLSI1032E80LJN | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:In-System Programmable High Density PLD |
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