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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | AD5165 |
| 廠商： | Analog Devices, Inc. |
| 元件分類： | 圓形連接器 |
| 英文描述： | Circular Connector; No. of Contacts:4; Series:D38999; Body Material:Metal; Connecting Termination:Crimp; Connector Shell Size:13; Circular Contact Gender:Socket; Circular Shell Style:Straight Plug; Insert Arrangement:13-4 |
| 中文描述： | 256位置，超低功耗1.8 V邏輯級(jí)數(shù)字電位器 |
| 文件頁數(shù)： | 11/16頁 |
| 文件大?。?/td> | 569K |
| 代理商： | AD5165 |
AD5165
TEST CIRCUITS
Figure 27 to Figure 33 illustrate the test circuits that define the test conditions used in the product specification tables.
Rev. 0 | Page 11 of 16
V
MS
A
W
B
DUT
V+
V+ = V
1LSB = V+/2
N
0
Figure 27. Test Circuit for Potentiometer Divider Nonlinearity Error
(INL, DNL)
NO CONNECT
I
W
V
MS
A
W
B
DUT
0
Figure 28. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
V
MS2
V
MS1
V
W
A
W
B
DUT
I
W
= V
DD
/R
NOMINAL
R
W
= [V
MS1
– V
MS2
]/I
W
0
Figure 29. Test Circuit for Wiper Resistance
0
V
MS
%
DD
%
PSS (%/%) =
V+ = V
DD
PSRR (dB) = 20 LOG
10%
MS
( )
V
DD
V
A
V
MS
A
W
B
V+
V
Figure 30. Test Circuit for Power Supply Sensitivity (PSS, PSSR)
+15V
–15V
W
A
2.5V
B
V
OUT
OFFSET
GND
DUT
AD8610
V
IN
0
Figure 31. Test Circuit for Gain vs. Frequency
W
B
GND TO V
DD
DUT
I
SW
CODE = 0x00
R
SW
=
0.1V
I
SW
0.1V
0
Figure 32. Test Circuit for Incremental ON Resistance
W
B
V
CM
I
CM
A
NC
GND
NC
V
DD
DUT
NC = NO CONNECT
0
Figure 33. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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| AD5165EVAL | 制造商:Analog Devices 功能描述:8-BIT 3-WIRE DIGIPOT1 - Bulk |
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