2-36 Revision 11 1.5 V LVCMOS (JESD8-11) Low-Voltage CMOS for 1.5 V is an extension of the L" />
參數資料
型號： A3PN125-Z2VQG100I
廠商： Microsemi SoC
文件頁數： 61/114頁
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描述： IC FPGA NANO 125K GATES 100-VQFP
標準包裝： 90
系列： ProASIC3 nano
RAM 位總計： 36864
輸入/輸出數： 71
門數： 125000
電源電壓： 1.425 V ~ 1.575 V
安裝類型： 表面貼裝
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 100-TQFP
供應商設備封裝： 100-VQFP（14x14）
ProASIC3 nano DC and Switching Characteristics
2-36
Revision 11
1.5 V LVCMOS (JESD8-11)
Low-Voltage CMOS for 1.5 V is an extension of the LVCMOS standard (JESD8-5) used for general-
purpose 1.5 V applications. It uses a 1.5 V input buffer and a push-pull output buffer.
Table 2-50 Minimum and Maximum DC Input and Output Levels
1.5 V LVCMOS
VIL
VIH
VOL
VOH
IOL IOH IOSL IOSH IIL1 IIH2
Drive Strength
Min.
V
Max.
V
Min.
V
Max.
V
Max.
V
Min.
VmA mA
Max.
mA3
Max.
mA3 A4 A4
2 mA
–0.3 0.35 * VCCI 0.65 * VCCI
3.6
0.25 * VCCI 0.75 * VCCI 2
2
13
16
10
Notes:
1. IIL is the input leakage current per I/O pin over recommended operation conditions where –0.3 V < VIN < VIL.
2. IIH is the input leakage current per I/O pin over recommended operating conditions VIH < VIN < VCCI. Input current is
larger when operating outside recommended ranges.
3. Currents are measured at high temperature (100°C junction temperature) and maximum voltage.
4. Currents are measured at 85°C junction temperature.
5. Software default selection highlighted in gray.
Figure 2-9 AC Loading
Table 2-51 1.5 V LVCMOS AC Waveforms, Measuring Points, and Capacitive Loads
Input LOW (V)
Input HIGH (V)
Measuring Point* (V)
CLOAD (pF)
0
1.5
0.75
10
Notes:
1. Measuring point = Vtrip. See Table 2-16 on page 2-17 for a complete table of trip points.
2. Capacitive Load for A3PN060, A3PN125, and A3PN250 is 35 pF.
Test Point
Enable Path
Datapath
35 pF
R = 1 k
R to VCCI for tLZ / tZL / tZLS
R to GND for tHZ / tZH / tZHS
35 pF for tZH / tZHS / tZL / tZLS
35 pF for tHZ / tLZ
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