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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | XE8805AMI028LF |
| 廠商： | Semtech |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 18/156頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC DAS 16BIT FLASH 8K MTP 64LQFP |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 160 |
| 系列： | XE880x |
| 應(yīng)用： | 感測(cè)機(jī) |
| 核心處理器： | Coolrisc816? |
| 程序存儲(chǔ)器類型： | 閃存（22 kB） |
| 控制器系列： | XE8000 |
| RAM 容量： | 512 x 8 |
| 接口： | UART，USRT |
| 輸入/輸出數(shù)： | 24 |
| 電源電壓： | 2.4 V ~ 5.5 V |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 64-LQFP |
| 包裝： | 托盤 |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 64-LQFP（10x10） |
| 產(chǎn)品目錄頁(yè)面： | 585 (CN2011-ZH PDF) |
| 配用： | XE8000MP-ND - PROG BOARD AND PROSTART2 CARD |
第1頁(yè)第2頁(yè)第3頁(yè)第4頁(yè)第5頁(yè)第6頁(yè)第7頁(yè)第8頁(yè)第9頁(yè)第10頁(yè)第11頁(yè)第12頁(yè)第13頁(yè)第14頁(yè)第15頁(yè)第16頁(yè)第17頁(yè)當(dāng)前第18頁(yè)第19頁(yè)第20頁(yè)第21頁(yè)第22頁(yè)第23頁(yè)第24頁(yè)第25頁(yè)第26頁(yè)第27頁(yè)第28頁(yè)第29頁(yè)第30頁(yè)第31頁(yè)第32頁(yè)第33頁(yè)第34頁(yè)第35頁(yè)第36頁(yè)第37頁(yè)第38頁(yè)第39頁(yè)第40頁(yè)第41頁(yè)第42頁(yè)第43頁(yè)第44頁(yè)第45頁(yè)第46頁(yè)第47頁(yè)第48頁(yè)第49頁(yè)第50頁(yè)第51頁(yè)第52頁(yè)第53頁(yè)第54頁(yè)第55頁(yè)第56頁(yè)第57頁(yè)第58頁(yè)第59頁(yè)第60頁(yè)第61頁(yè)第62頁(yè)第63頁(yè)第64頁(yè)第65頁(yè)第66頁(yè)第67頁(yè)第68頁(yè)第69頁(yè)第70頁(yè)第71頁(yè)第72頁(yè)第73頁(yè)第74頁(yè)第75頁(yè)第76頁(yè)第77頁(yè)第78頁(yè)第79頁(yè)第80頁(yè)第81頁(yè)第82頁(yè)第83頁(yè)第84頁(yè)第85頁(yè)第86頁(yè)第87頁(yè)第88頁(yè)第89頁(yè)第90頁(yè)第91頁(yè)第92頁(yè)第93頁(yè)第94頁(yè)第95頁(yè)第96頁(yè)第97頁(yè)第98頁(yè)第99頁(yè)第100頁(yè)第101頁(yè)第102頁(yè)第103頁(yè)第104頁(yè)第105頁(yè)第106頁(yè)第107頁(yè)第108頁(yè)第109頁(yè)第110頁(yè)第111頁(yè)第112頁(yè)第113頁(yè)第114頁(yè)第115頁(yè)第116頁(yè)第117頁(yè)第118頁(yè)第119頁(yè)第120頁(yè)第121頁(yè)第122頁(yè)第123頁(yè)第124頁(yè)第125頁(yè)第126頁(yè)第127頁(yè)第128頁(yè)第129頁(yè)第130頁(yè)第131頁(yè)第132頁(yè)第133頁(yè)第134頁(yè)第135頁(yè)第136頁(yè)第137頁(yè)第138頁(yè)第139頁(yè)第140頁(yè)第141頁(yè)第142頁(yè)第143頁(yè)第144頁(yè)第145頁(yè)第146頁(yè)第147頁(yè)第148頁(yè)第149頁(yè)第150頁(yè)第151頁(yè)第152頁(yè)第153頁(yè)第154頁(yè)第155頁(yè)第156頁(yè)
Semtech 2006
www.semtech.com
16-28
XE8805/05A
Offset error is defined as the output code error for a zero volt input (ideally, output code = 0). The offset of the ADC
and the PGA1 stage are completely suppressed if NELCONV > 1.
The measured offset drift vs. temperature curves for different PGA gains are depicted in Figure 16-20. The output
offset error, expressed in LSB for 16-bit setting, is normalized to 25°C. Notice that if the ADC is used alone, the
output offset error is below
±1 LSB and has no drift.
NORMALIZED TO 25°C
-0.4
-0.3
-0.2
-0.1
0.0
0.1
0.2
-50
-25
0
25
50
75
100
Temperature [°C]
G
a
in
E
rro
r[
%
o
fF
S
R
]
1
5
20
100
Figure 16-19. Gain error vs. temperature for different PGA gains
NORMALIZED TO 25°C
-40
-20
0
20
40
60
80
100
-50
-25
0
25
50
75
100
Temperature [°C]
O
u
tp
u
t
O
ffs
e
tE
rr
o
r[L
S
B
]
1
5
20
100
Figure 16-20. Offset error vs. temperature for different PGA gains
16.8.6
Power Consumption
Figure 16-21 plots the variation of quiescent current consumption with supply voltage VDD, as well as the
distribution between the 3 PGA stages and the ADC (see Table 16-28). As shown in Figure 16-22, if lower
sampling frequency is used, the quiescent current consumption can be lowered by reducing the bias currents of the
PGAs and the ADC with registers IB_AMP_PGA
[1:0]
and IB_AMP_ADC
[1:0]
. (In Figure 16-22,
IB_AMP_PGA/ADC[1:0]
= '11', '10', '00' for fS = 500, 250, 62.5kHz respectively.)
Quiescent current consumption vs. temperature is depicted in Figure 16-23, showing a relative increase of nearly
40% between -45 and +85°C. Figure 16-24 shows the variation of quiescent current consumption for different
frequency settings of the internal RC oscillator. It can be seen that the quiescent current varies by about 20%
between 100kHz and 2MHz.
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