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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | XC2V80-4CSG144I |
| 廠商： | Xilinx Inc |
| 文件頁數(shù)： | 282/318頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA VIRTEX-II 80K 144-CSBGA |
| 產(chǎn)品變化通告： | FPGA Family Discontinuation 18/Apr/2011 |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 198 |
| 系列： | Virtex®-II |
| LAB/CLB數(shù)： | 128 |
| RAM 位總計(jì)： | 147456 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 92 |
| 門數(shù)： | 80000 |
| 電源電壓： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 100°C |
| 封裝/外殼： | 144-TFBGA，CSPBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 144-LCSBGA（12x12） |
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Virtex-II Platform FPGAs: DC and Switching Characteristics
R
DS031-3 (v3.5) November 5, 2007
Module 3 of 4
Product Specification
18
Output Delay Measurements
Output delays are measured using a Tektronix P6245
TDS500/600 probe (< 1 pF) across approximately 4" of FR4
microstrip trace. Standard termination was used for all test-
ing. (See Virtex-II Platform FPGA User Guide for details.)
The propagation delay of the 4" trace is characterized sep-
arately and subtracted from the final measurement, and is
therefore not included in the generalized test setup shown in
Measurements and test conditions are reflected in the IBIS
models except where the IBIS format precludes it. (IBIS
models can be found on the web at http://support.xil-
.) Parameters VREF, RREF,
CREF, and VMEAS fully describe the test conditions for each
I/O standard. The most accurate prediction of propagation
delay in any given application can be obtained through IBIS
simulation, using the following method:
1.
Simulate the output driver of choice into the generalized
test setup, using values from Table 19.
2.
Record the time to VMEAS.
3.
Simulate the output driver of choice into the actual PCB
trace and load, using the appropriate IBIS model or
capacitance value to represent the load.
4.
Record the time to VMEAS.
5.
decrease in delay should be added to or subtracted
from the I/O Output Standard Adjustment value
(Table 17) to yield the actual worst-case propagation
delay (clock-to-input) of the PCB trace.
Figure 1: Generalized Test Setup
VREF
RREF
VMEAS
(voltage level at which
delay measurement is taken)
CREF
(probe capacitance)
FPGA Output
ds083-3_06a_092503
Table 19: Output Delay Measurement Methodology
Description
IOSTANDARD
Attribute
RREF
(
Ω)
CREF(1)
(pF)
VMEAS
(V)
VREF
(V)
LVTTL (Low-Voltage Transistor-Transistor Logic)
LVTTL (all)
1M
0
1.4
0
LVCMOS (Low-Voltage CMOS ), 3.3V
LVCMOS33
1M
0
1.65
0
LVCMOS, 2.5V
LVCMOS25
1M
0
1.25
0
LVCMOS, 1.8V
LVCMOS18
1M
0
0.9
0
LVCMOS, 1.5V
LVCMOS15
1M
0
0.75
0
PCI (Peripheral Component Interface), 33 MHz, 3.3V
PCI33_3 (rising edge)
25
10(2)
0.94
0
PCI33_3 (falling edge)
25
10(2)
2.03
3.3
PCI, 66 MHz, 3.3V
PCI66_3 (rising edge)
25
10(2)
0.94
0
PCI66_3 (falling edge)
25
10(2)
2.03
3.3
PCI-X, 133 MHz, 3.3V
PCIX (rising edge)
25
10(3)
0.94
PCIX (falling edge
25
10(3)
2.03
3.3
GTL (Gunning Transceiver Logic)
GTL
25
0
0.8
1.2
GTL Plus
GTLP
25
0
1.0
1.5
HSTL (High-Speed Transceiver Logic), Class I
HSTL_I
50
0
VREF
0.75
HSTL, Class II
HSTL_II
25
0
VREF
0.75
HSTL, Class III
HSTL_III
50
0
0.9
1.5
HSTL, Class IV
HSTL_IV
25
0
0.9
1.5
HSTL, Class I, 1.8V
HSTL_I_18
50
0
VREF
0.9
HSTL, Class II, 1.8V
HSTL_II_18
25
0
VREF
0.9
HSTL, Class III, 1.8V
HSTL_III_18
50
0
1.1
1.8
HSTL, Class IV, 1.8V
HSTL_IV_18
25
0
1.1
1.8
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| 24AA08-I/MS | IC EEPROM 8KBIT 400KHZ 8MSOP |
| 93LC66A/ST | IC EEPROM 4KBIT 2MHZ 8TSSOP |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| XC2V80-4FF1152C | 制造商:XILINX 制造商全稱:XILINX 功能描述:Virtex-II 1.5V Field-Programmable Gate Arrays |
| XC2V80-4FF1152I | 制造商:XILINX 制造商全稱:XILINX 功能描述:Virtex-II 1.5V Field-Programmable Gate Arrays |
| XC2V80-4FF1517C | 制造商:XILINX 制造商全稱:XILINX 功能描述:Virtex-II 1.5V Field-Programmable Gate Arrays |
| XC2V80-4FF1517I | 制造商:XILINX 制造商全稱:XILINX 功能描述:Virtex-II 1.5V Field-Programmable Gate Arrays |
| XC2V80-4FF896C | 制造商:XILINX 制造商全稱:XILINX 功能描述:Virtex-II 1.5V Field-Programmable Gate Arrays |
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