參數(shù)資料
型號： ST72F324BJ2B5
廠商： STMICROELECTRONICS
元件分類： 微控制器/微處理器
英文描述： 8-BIT, FLASH, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PDIP42
封裝： 0.600 INCH, SHRINK, PLASTIC, DIP-42
文件頁數(shù)： 75/188頁
文件大?。?/td> 2867K
代理商： ST72F324BJ2B5
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Electrical characteristics
ST72324B
166/188
12.13.3
ADC accuracy
Figure 88.
ADC accuracy characteristics
Table 112.
ADC accuracy
Symbol
Parameter
Conditions
Typ
Max(1)
Unit
ROM and
8/16 Kbyte
Flash
32 Kbyte
Flash
|ET|
Total unadjusted error(2)
V
DD
=5
V
CPU in run mode @ fADC 2 MHz
34
6
LSB
|EO|
Offset error(2)
23
5
|EG|
0.5
3
4.5
|ED|
Differential linearity error(2)
12
2
|EL|
Integral linearity error(2)
3
1.
Data based on characterization results, monitored in production to guarantee 99.73% within ± max value from -40°C to
125°C (± 3
σ distribution limits).
2.
ADC accuracy vs. negative injection current: Injecting negative current may reduce the accuracy of the conversion being
performed on another analog input. Any positive injection current within the limits specified for IINJ(PIN) and ΣIINJ(PIN) in
Section 12.9 does not affect the ADC accuracy.
EO
EG
1LSBIDEAL
1LSB
IDEAL
V
AREF
V
SSA
–
1024
--------------------------------------------
=
Vin (LSBIDEAL)
Digital result ADCDR
1023
1022
1021
5
4
3
2
1
0
7
6
1
234
567
1021
1023
(1)
(2)
ET
ED
EL
(3)
VAREF
VSSA
(1) Example of an actual transfer curve.
(2) The ideal transfer curve.
(3) End point correlation line.
ET = Total Unadjusted Error: maximum
deviation between the actual and the ideal
transfer curves.
EO = Offset Error: deviation between the first
actual transition and the first ideal one.
EG = Gain Error: deviation between the last
ideal transition and the last actual one.
ED = Differential Linearity Error: maximum
deviation between actual steps and the ideal
one.
EL = Integral Linearity Error: maximum
deviation between any actual transition and the
end point correlation line.
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PDF描述
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