參數(shù)資料
型號： SST55LD017D-40-C-TQWE
廠商： SILICON STORAGE TECHNOLOGY INC
元件分類： 存儲控制器/管理單元
英文描述： FLASH MEMORY DRIVE CONTROLLER, PQFP100
封裝： TQFP-100
文件頁數(shù)： 40/59頁
文件大?。?/td> 702K
代理商： SST55LD017D-40-C-TQWE
EOL Product Document
ATA Flash Disk Controller
SST55LD017D
45
2006 Silicon Storage Technology, Inc.
S71225-01-EOL
4/06
12.2 AC Characteristics
FIGURE
12-1: AC INPUT/OUTPUT REFERENCE WAVEFORMS
12.2.1 Host Side Interface I/O Input (Read) Timing Specification
Note: The maximum load on IOCS16# is 1 LSTTL with 50pF total load.
All AC specifications are guaranteed by design.
FIGURE
12-2: HOST SIDE INTERFACE I/O READ TIMING DIAGRAM
TABLE 12-17: HOST SIDE INTERFACE I/O READ TIMING
Item
Symbol
Min
Max
Units
Data Setup before IORD#
tsu(IORD)
20
-
ns
Data Hold following IORD#
th(IORD)
5
-
ns
IORD# Width Time
tw(IORD)
70
-
ns
Address Setup before IORD#
tsuA(IORD)
25
-
ns
Address Hold following IORD#
thA(IORD)
10
-
ns
IOCS16# Delay Falling from Address
tdfIOCS16(ADR)
-
20
ns
IOCS16# Delay Rising from Address
tdrIOCS16(ADR)
-
20
ns
T12-17.0 1225
1225 F02.0
REFERENCE POINTS
OUTPUT
INPUT
VIT
VIHT
VILT
VOT
AC test inputs are driven at VIHT (0.9 VDD) for a logic “1” and VILT (0.1 VDD) for a logic “0”. Measurement reference
points for inputs and outputs are VIT (0.5 VDD) and VOT (0.5 VDD). Input rise and fall times (10% 90%) are <10 ns.
Note: VIT - VINPUT Test
VOT - VOUTPUT Test
VIHT - VINPUT HIGH Test
VILT - VINPUT LOW Test
1225 F03.0
tdrIOCS16(ADR)
tdfIOCS16(ADR)
thA(IORD)
th(IORD)
tsuA(IORD)
tsu (IORD)
tw(IORD)
Valid Address1
IORD#
IOCS16#
D15-D0
DOUT
1. Valid Address consists of signals CS1FX#, CS3FX# and A2-A0.
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