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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | SST39VF010-90-4I-WK |
| 廠商： | Silicon Storage Technology, Inc. |
| 元件分類： | FLASH |
| 英文描述： | 64 Mbit (x16) Multi-Purpose Flash Plus |
| 中文描述： | 64兆位（x16）的多功能閃存加 |
| 文件頁數(shù)： | 8/24頁 |
| 文件大?。?/td> | 277K |
| 代理商： | SST39VF010-90-4I-WK |
8
Data Sheet
512 Kbit / 1 Mbit / 2 Mbit / 4 Mbit Multi-Purpose Flash
SST39LF512 / SST39LF010 / SST39LF020 / SST39LF040
SST39VF512 / SST39VF010 / SST39VF020 / SST39VF040
2001 Silicon Storage Technology, Inc.
S71150-03-000
6/01
395
TABLE
5: DC O
PERATING
C
HARACTERISTICS
V
DD
= 3.0-3.6V
FOR
SST39LF512/010/020/040
AND
2.7-3.6V
FOR
SST39VF512/010/020/040
Symbol
I
DD
Parameter
Power Supply Current
Limits
Max
Test Conditions
Address input=V
IL
/V
IH
, at f=1/T
RC
Min
V
DD
=V
DD
Max
CE#=OE#=V
IL
, WE#=V
IH
, all I/Os open
CE#=WE#=V
IL
, OE#=V
IH
CE#=V
IHC
, V
DD
=V
DD
Max
V
IN
=GND to V
DD
, V
DD
=V
DD
Max
V
OUT
=GND to V
DD
, V
DD
=V
DD
Max
V
DD
=V
DD
Min
V
DD
=V
DD
Max
V
DD
=V
DD
Max
I
OL
=100 μA, V
DD
=V
DD
Min
I
OH
=-100 μA, V
DD
=V
DD
Min
Min
Units
Read
Write
Standby V
DD
Current
Input Leakage Current
Output Leakage Current
Input Low Voltage
Input High Voltage
Input High Voltage (CMOS)
Output Low Voltage
Output High Voltage
20
20
15
1
10
0.8
mA
mA
μA
μA
μA
V
V
V
V
V
I
SB
I
LI
I
LO
V
IL
V
IH
V
IHC
V
OL
V
OH
0.7V
DD
V
DD
-0.3
0.2
V
DD
-0.2
T5.2 395
TABLE
6: R
ECOMMENDED
S
YSTEM
P
OWER
-
UP
T
IMINGS
Symbol
T
PU-READ1
T
PU-WRITE1
Parameter
Power-up to Read Operation
Power-up to Program/Erase Operation
Minimum
100
100
Units
μs
μs
1. This parameter is measured only for initial qualification and after a design or process change that could affect this parameter.
T6.1 395
TABLE
7: C
APACITANCE
(Ta = 25
°
C, f=1 Mhz, other pins open)
Parameter
C
I/O1
C
IN1
Description
I/O Pin Capacitance
Input Capacitance
Test Condition
V
I/O
= 0V
V
IN
= 0V
Maximum
12 pF
6 pF
1. This parameter is measured only for initial qualification and after a design or process change that could affect this parameter.
T7.0 395
TABLE
8: R
ELIABILITY
C
HARACTERISTICS
Symbol
N
END1
T
DR1
I
LTH1
Parameter
Endurance
Data Retention
Latch Up
Minimum Specification
10,000
Units
Cycles
Years
mA
Test Method
JEDEC Standard A117
JEDEC Standard A103
JEDEC Standard 78
1. This parameter is measured only for initial qualification and after a design or process change that could affect this parameter.
100
100 + I
DD
T8.2 395
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SST39VF080-70-4C-B3KE | 64 Mbit (x16) Multi-Purpose Flash Plus |
| SST39VF080-70-4C-EIE | 64 Mbit (x16) Multi-Purpose Flash Plus |
| SST39VF080-70-4I-B3KE | 64 Mbit (x16) Multi-Purpose Flash Plus |
| SST39VF080-70-4I-EIE | 64 Mbit (x16) Multi-Purpose Flash Plus |
| SST39VF080-90-4C-B3KE | 64 Mbit (x16) Multi-Purpose Flash Plus |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| SST39VF016-70-4C-EI | 功能描述:閃存 USE 804-39VF16817CEK RoHS:否 制造商:ON Semiconductor 數(shù)據(jù)總線寬度:1 bit 存儲(chǔ)類型:Flash 存儲(chǔ)容量:2 MB 結(jié)構(gòu):256 K x 8 定時(shí)類型: 接口類型:SPI 訪問時(shí)間: 電源電壓-最大:3.6 V 電源電壓-最小:2.3 V 最大工作電流:15 mA 工作溫度:- 40 C to + 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體: 封裝:Reel |
| SST39VF016-90-4C-EI | 功能描述:閃存 RoHS:否 制造商:ON Semiconductor 數(shù)據(jù)總線寬度:1 bit 存儲(chǔ)類型:Flash 存儲(chǔ)容量:2 MB 結(jié)構(gòu):256 K x 8 定時(shí)類型: 接口類型:SPI 訪問時(shí)間: 電源電壓-最大:3.6 V 電源電壓-最小:2.3 V 最大工作電流:15 mA 工作溫度:- 40 C to + 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體: 封裝:Reel |
| SST39VF020-70-4C-B3K | 功能描述:閃存 256K X 8 70ns RoHS:否 制造商:ON Semiconductor 數(shù)據(jù)總線寬度:1 bit 存儲(chǔ)類型:Flash 存儲(chǔ)容量:2 MB 結(jié)構(gòu):256 K x 8 定時(shí)類型: 接口類型:SPI 訪問時(shí)間: 電源電壓-最大:3.6 V 電源電壓-最小:2.3 V 最大工作電流:15 mA 工作溫度:- 40 C to + 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體: 封裝:Reel |
| SST39VF020-70-4C-B3KE | 功能描述:閃存 256K X 8 70ns RoHS:否 制造商:ON Semiconductor 數(shù)據(jù)總線寬度:1 bit 存儲(chǔ)類型:Flash 存儲(chǔ)容量:2 MB 結(jié)構(gòu):256 K x 8 定時(shí)類型: 接口類型:SPI 訪問時(shí)間: 電源電壓-最大:3.6 V 電源電壓-最小:2.3 V 最大工作電流:15 mA 工作溫度:- 40 C to + 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體: 封裝:Reel |
| SST39VF020704CNH | 制造商:Silicon Storage Technology (SST) 功能描述: 制造商:SST 功能描述: |
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