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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | SN74LVC08ADB |
| 廠商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-AND GATES |
| 中文描述： | 四2輸入陽性與門 |
| 文件頁數(shù)： | 2/8頁 |
| 文件大小： | 111K |
| 代理商： | SN74LVC08ADB |
SN54LVC08A, SN74LVC08A
QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-AND GATES
SCAS283G – JANUARY 1993 – REVISED JUNE 1998
2
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
logic symbol
1
1A
2
1B
4
2A
5
2B
9
3A
10
3B
12
4A
13
4B
&
1Y
3
2Y
6
3Y
8
4Y
11
This symbol is in accordance with ANSI/IEEE Std 91-1984 and IEC Publication 617-12.
Pin numbers shown are for the D, DB, J, PW, and W packages.
logic diagram, each gate (positive logic)
A
B
Y
absolute maximum ratings over operating free-air temperature range (unless otherwise noted)
Supply voltage range, V
CC
Input voltage range, V
I
(see Note 1)
Output voltage range, V
O
(see Notes 1 and 2)
Input clamp current, I
IK
(V
I
< 0)
Output clamp current, I
OK
(V
O
< 0)
Continuous output current, I
O
Continuous current through V
CC
or GND
Package thermal impedance,
θ
JA
(see Note 3): D package
–0.5 V to 6.5 V
–0.5 V to 6.5 V
–0.5 V to V
CC
+ 0.5 V
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
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. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DB package
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
PW package
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Storage temperature range, T
stg
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Stresses beyond those listed under “absolute maximum ratings” may cause permanent damage to the device. These are stress ratings only, and
functional operation of the device at these or any other conditions beyond those indicated under “recommended operating conditions” is not
implied. Exposure to absolute-maximum-rated conditions for extended periods may affect device reliability.
NOTES:
1. The input negative-voltage and output voltage ratings may be exceeded if the input and output current ratings are observed.
2. The value of VCC is provided in the recommended operating conditions table.
3. The package thermal impedance is calculated in accordance with JESD 51.
–50 mA
–50 mA
±
50 mA
±
100 mA
127
°
C/W
158
°
C/W
170
°
C/W
–65
°
C to 150
°
C
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