參數(shù)資料
型號(hào)： SN74BCT8240ADWRE4
廠商： Texas Instruments, Inc.
英文描述： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
中文描述： 掃描測(cè)試設(shè)備與八進(jìn)制反向緩沖器
文件頁(yè)數(shù)： 18/26頁(yè)
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代理商： SN74BCT8240ADWRE4
SN54BCT8240A, SN74BCT8240A
SCAN TEST DEVICES
WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
SCBS067E – FEBRUARY 1990 – REVISED DECEMBER 1996
18
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
timing requirements over recommended ranges of supply voltage and operating free-air
temperature (unless otherwise noted) (test mode) (see Figure 9)
VCC = 5 V,
TA = 25
°
C
MIN
SN54BCT8240A
SN74BCT8240A
UNIT
MAX
MIN
MAX
MIN
MAX
fclock
Clock frequency
TCK
0
20
0
20
0
20
MHz
tw
Pulse duration
TCK high or low
25
25
25
ns
TMS double high
Any A before TCK
↑
Any OE before TCK
↑
TDI before TCK
↑
TMS before TCK
↑
Any A after TCK
↑
Any OE after TCK
↑
TDI after TCK
↑
TMS after TCK
↑
Power up to TCK
↑
50*
50*
50
6
6
6
tsu
Setup time
6
6
6
ns
6
6
6
12
12
12
4.5
4.5
4.5
th
Hold time
4.5
4.5
4.5
ns
4.5
4.5
4.5
0
0
0
td
Delay time
100*
100*
100
ns
* On products compliant to MIL-PRF-38535, this parameter is not production tested.
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PDF描述
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參數(shù)描述
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SN74BCT8244ADWE4 功能描述:特定功能邏輯 Device w/Octal Buffers RoHS:否 制造商:Texas Instruments 產(chǎn)品: 系列:SN74ABTH18502A 工作電源電壓:5 V 封裝 / 箱體:LQFP-64 封裝:Tube
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