參數(shù)資料
型號： S912XDG256J1MAL
廠商： FREESCALE SEMICONDUCTOR INC
元件分類： 微控制器/微處理器
英文描述： 16-BIT, FLASH, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP112
封裝： LEAD FREE, LQFP-112
文件頁數(shù)： 901/1000頁
文件大小： 3287K
代理商： S912XDG256J1MAL
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Appendix A Electrical Characteristics
MC9S12XDP512 Data Sheet, Rev. 2.13
Freescale Semiconductor
909
A.3.2
NVM Reliability
The reliability of the NVM blocks is guaranteed by stress test during qualication, constant process
monitors and burn-in to screen early life failures. The program/erase cycle count on the sector is
incremented every time a sector or mass erase event is executed
Table A-18. NVM Reliability Characteristics1
1 T
Javg will not exeed 85°C considering a typical temperature prole over the lifetime of a consumer, industrial or automotive
application.
Conditions are shown in Table A-4 unless otherwise noted
Num
C
Rating
Symbol
Min
Typ
Max
Unit
Flash Reliability Characteristics
1
C Data retention after 10,000 program/erase cycles at an
average junction temperature of TJavg
≤ 85°C
tFLRET
15
1002
2 Typical data retention values are based on intrinsic capability of the technology measured at high temperature and de-rated to
25
°C using the Arrhenius equation. For additional information on how Freescale denes Typical Data Retention, please refer
to Engineering Bulletin EB618.
—
Years
2
C Data retention with <100 program/erase cycles at an
average junction temperature TJavg
≤ 85°C
20
1002
—
3
C Number of program/erase cycles
(–40
°C
≤ T
J
≤ 0°C)
nFL
10,000
—
Cycles
4
C Number of program/erase cycles
(0
°C
≤ T
J
≤ 140°C)
10,000
100,0003
3 Spec table quotes typical endurance evaluated at 25°C for this product family, typical endurance at various temperature can
be estimated using the graph below. For additional information on how Freescale denes Typical Endurance, please refer to
Engineering Bulletin EB619.
—
EEPROM Reliability Characteristics
5
C Data retention after up to 100,000 program/erase cycles
at an average junction temperature of TJavg
≤ 85°C
tEEPRET
15
1002
—
Years
6
C Data retention with <100 program/erase cycles at an
average junction temperature TJavg
≤ 85°C
20
1002
—
7
C Number of program/erase cycles
(–40
°C
≤ T
J
≤ 0°C)
nEEP
10,000
—
Cycles
8
C Number of program/erase cycles
(0
°C < TJ
≤ 140°C)
100,000
300,0003
—
相關(guān)PDF資料
PDF描述
S912XDT512J1VAG 16-BIT, FLASH, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP144
S912XD256J1CAL 16-BIT, FLASH, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP112
S912XDT384J1MAA 16-BIT, FLASH, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP80
S912XDT512J1CAG 16-BIT, FLASH, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP144
S912XD256J1CAGR 16-BIT, FLASH, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP144
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參數(shù)描述
S912XDG256J1VAG 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:BLUEFIN AUTO - Bulk
S912XDG256J1VAGR 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:BLUEFIN AUTO - Tape and Reel
S912XDG384J1CAL 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:BLUEFIN AUTO - Bulk
S912XDG384J1CALR 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:BLUEFIN AUTO - Tape and Reel
S912XDG512J1CAG 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:MCU 16BIT HCS12 RISC 512KB FLASH 2.5V/5V 144LQFP - Bulk
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