參數(shù)資料
型號(hào)： PIC12C509A-04I/SN
廠商： Microchip Technology
文件頁(yè)數(shù)： 101/113頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC MCU OTP 1KX12 8SOIC
產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： Asynchronous Stimulus
8-bit PIC® Microcontroller Portfolio
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 100
系列： PIC® 12C
核心處理器： PIC
芯體尺寸： 8-位
速度： 4MHz
外圍設(shè)備： POR，WDT
輸入/輸出數(shù)： 5
程序存儲(chǔ)器容量： 1.5KB（1K x 12）
程序存儲(chǔ)器類(lèi)型： OTP
RAM 容量： 41 x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 3 V ~ 5.5 V
振蕩器型： 內(nèi)部
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 8-SOIC（0.154"，3.90mm 寬）
包裝： 管件
配用： ISPICR1-ND - ADAPTER IN-CIRCUIT PROGRAMMING
309-1046-ND - ADAPTER 8-SOIC TO 8-DIP
309-1045-ND - ADAPTER 8-SOIC TO 8-DIP
PIC12C5XX
DS40139E-page 88
1999 Microchip Technology Inc.
FIGURE 13-3:
I/O TIMING - PIC12C508A, PIC12C509A, PIC12CE518, PIC12CE519, PIC12LC508A,
PIC12LC509A, PIC12LCR509A, PIC12LCE518 and PIC12LCE519
TABLE 13-4:
TIMING REQUIREMENTS - PIC12C508A, PIC12C509A, PIC12CE518, PIC12CE519,
PIC12LC508A, PIC12LC509A, PIC12LCR509A, PIC12LCE518 and PIC12LCE519
AC Characteristics
Standard Operating Conditions (unless otherwise specified)
Operating Temperature
0
°C ≤ TA ≤ +70°C (commercial)
–40
°C ≤ TA ≤ +85°C (industrial)
–40
°C ≤ TA ≤ +125°C (extended)
Operating Voltage VDD range is described in Section 13.1
Parameter
No.
Sym
Characteristic
Min
Typ(1)
Max
Units
17
TosH2ioV
OSC1
↑ (Q1 cycle) to Port out valid(3)
—
100*
ns
18
TosH2ioI
OSC1
↑ (Q2 cycle) to Port input invalid
(I/O in hold time)
TBD
—
ns
19
TioV2osH
Port input valid to OSC1
↑
(I/O in setup time)
TBD
—
ns
20
TioR
Port output rise time(2, 3)
—10
25**
ns
21
TioF
Port output fall time(2, 3)
—10
25**
ns
*
These parameters are characterized but not tested.
** These parameters are design targets and are not tested. No characterization data available at this time.
Note 1: Data in the Typical (“Typ”) column is at 5V, 25°C unless otherwise stated. These parameters are for design
guidance only and are not tested.
2: Measurements are taken in EXTRC mode.
3: See Figure 13-1 for loading conditions.
OSC1
I/O Pin
(input)
I/O Pin
(output)
Q4
Q1
Q2
Q3
17
20, 21
18
Old Value
New Value
Note: All tests must be done with specified capacitive loads (see data sheet) 50 pF on I/O pins and CLKOUT.
19
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