參數(shù)資料
型號： P89LPC9151FDH,129
廠商： NXP Semiconductors
文件頁數(shù)： 15/27頁
文件大小： 0K
描述： IC 80C51 MCU FLASH 2KB 14TSSOP
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 96
系列： LPC900
核心處理器： 8051
芯體尺寸： 8-位
速度： 18MHz
連通性： I²C，UART/USART
外圍設(shè)備： 欠壓檢測/復(fù)位，POR，PWM，WDT
輸入/輸出數(shù)： 12
程序存儲器容量： 2KB（2K x 8）
程序存儲器類型： 閃存
RAM 容量： 256 x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 2.4 V ~ 3.6 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 4x8b; D/A 1x8b
振蕩器型： 內(nèi)部
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 14-TSSOP（0.173"，4.40mm 寬）
包裝： 管件
其它名稱： 568-8738-5
935290259129
P89LPC9151FDH,129-ND
ALD4211/ALD4212
Advanced Linear Devices
8
ALD4213
TEST CIRCUITS
CROSSTALK TEST CIRCUIT
SWITCHING TIME TEST CIRCUIT
V+
V-
V+
COM1
OUT1
VO
GND
RL = 1K
CL = 15pF
COM2
50
Vi = 1Vr ms
100kHz
OUT2
RL = 1K
CL = 15pF
CCRR = 20 log [ VO/Vi ]
V-
4211.STTC.E
V+
V-
V+
V-
VS = 3V
COM1
IN1
OUT1
VO
GND
Logic Input
100kHz
4.5V
0V
RL = 1K
CL = 35pF
tr = tf ≤ 20ns
Logic Input
VO
50%
90%
10%
ton / toff
toff / ton
TOTAL HARMONIC DISTORTION
TEST CIRCUIT
4211.THDTC.EPS.W
V+
V-
V+
V-
COM1
OUT1
VO
GND
CL = 15pF
Vi = 1Vpp
100kHz
RL =
1K
IN1
50
CHARGE INJECTION TEST CIRCUIT
4211.CITC.EP
V+
V-
V+
V-
COM1
IN1
OUT1
VO
GND
Logic Input
100kHz
4.5V
0.5V
CL = 200pF
Logic Input
VO
Q = CLVO
OFF ISOLATION TEST CIRCUIT
V+
V-
V+
V-
COM1
OUT1
VO
GND
CL = 15pF
Vi = 1Vrms
100kHz
RL =
1K
IN1
50
QIRR = 20 log (VO/Vi)
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PDF描述
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參數(shù)描述
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P89LPC915FDH129 制造商:NXP Semiconductors 功能描述:IC 8BIT MCU 80C51 18MHZ TSSOP-14
P89LPC915FDH-S 功能描述:8位微控制器 -MCU 80C51 2K FL 256B RAM RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 處理器系列:C8051F39x 數(shù)據(jù)總線寬度:8 bit 最大時(shí)鐘頻率:50 MHz 程序存儲器大小:16 KB 數(shù)據(jù) RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:1.8 V to 3.6 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 105 C 封裝 / 箱體:QFN-20 安裝風(fēng)格:SMD/SMT
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