參數(shù)資料
型號(hào)： MPC5561MVZ132R
廠商： FREESCALE SEMICONDUCTOR INC
元件分類(lèi)： 微控制器/微處理器
英文描述： MICROCONTROLLER, PBGA324
封裝： 23 X 23 MM, 1 MM PITCH, MS-034AAJ-1, LEAD FREE, TEPBGA-324
文件頁(yè)數(shù)： 21/56頁(yè)
文件大?。?/td> 1044K
代理商： MPC5561MVZ132R
MPC5561 Microcontroller Data Sheet, Rev. 2.0
Electrical Characteristics
Freescale Semiconductor
28
3.13.2
IEEE 1149.1 Interface Timing
Figure 6. JTAG Test Clock Input Timing
Table 20. JTAG Pin AC Electrical Characteristics 1
1 These specifications apply to JTAG boundary scan only. JTAG timing specified at: V
DDE = 3.0–3.6 V and TA = TL to TH.
Refer to Table 21 for Nexus specifications.
Spec
Characteristic
Symbol
Min.
Max.
Unit
1
TCK cycle time
tJCYC
100
—
ns
2
TCK clock pulse width (measured at VDDE ÷ 2)
tJDC
40
60
ns
3
TCK rise and fall times (40% to 70%)
tTCKRISE
—3
ns
4
TMS, TDI data setup time
tTMSS, tTDIS
5—
ns
5
TMS, TDI data hold time
tTMSH, tTDIH
25
—
ns
6
TCK low to TDO data valid
tTDOV
—20
ns
7
TCK low to TDO data invalid
tTDOI
0—
ns
8
TCK low to TDO high impedance
tTDOHZ
—20
ns
9
JCOMP assertion time
tJCMPPW
100
—
ns
10
JCOMP setup time to TCK low
tJCMPS
40
—
ns
11
TCK falling-edge to output valid
tBSDV
—50
ns
12
TCK falling-edge to output valid out of high impedance
tBSDVZ
—50
ns
13
TCK falling-edge to output high impedance (Hi-Z)
tBSDHZ
—50
ns
14
Boundary scan input valid to TCK rising-edge
tBSDST
50
—
ns
15
TCK rising-edge to boundary scan input invalid
tBSDHT
50
—
ns
TCK
1
2
3
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