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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | MD80C32E-16SC |
| 廠商： | TEMIC SEMICONDUCTORS |
| 元件分類： | 微控制器/微處理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, 16 MHz, MICROCONTROLLER, CDIP40 |
| 文件頁數(shù)： | 184/287頁 |
| 文件大?。?/td> | 12910K |
| 代理商： | MD80C32E-16SC |
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8272E–AVR–04/2013
ATmega164A/PA/324A/PA/644A/PA/1284/P
24. JTAG interface and on-chip debug system
24.1
Features
JTAG (IEEE std. 1149.1 Compliant) interface
Boundary-scan capabilities according to the IEEE std. 1149.1 (JTAG) standard
Debugger access to:
– All internal peripheral units
– Internal and external RAM
– The internal register file
– Program counter
– EEPROM and flash memories
Extensive on-chip debug support for break conditions, including:
– AVR break instruction
– Break on change of program memory flow
– Single step break
– Program memory break points on single address or address range
– Data memory break points on single address or address range
Programming of Flash, EEPROM, Fuses, and Lock Bits through the JTAG Interface
On-chip Debugging Supported by Atmel AVR Studio
24.2
Overview
The AVR IEEE std. 1149.1 compliant JTAG interface can be used for
Testing PCBs by using the JTAG Boundary-scan capability
Programming the non-volatile memories, Fuses and Lock bits
On-chip debugging
A brief description is given in the following sections. Detailed descriptions for Programming via
the JTAG interface, and using the Boundary-scan Chain can be found in the sections ”Program-
270, respectively. The On-chip Debug support is considered being private JTAG instructions,
and distributed within Atmel and to selected third party vendors only.
Figure 24-1 shows a block diagram of the JTAG interface and the On-chip Debug system. The
TAP Controller is a state machine controlled by the TCK and TMS signals. The TAP Controller
selects either the JTAG Instruction Register or one of several Data Registers as the scan chain
(Shift Register) between the TDI – input and TDO – output. The Instruction Register holds JTAG
instructions controlling the behavior of a Data Register.
The ID-Register, Bypass Register, and the Boundary-scan Chain are the Data Registers used
for board-level testing. The JTAG Programming Interface (actually consisting of several physical
and virtual Data Registers) is used for serial programming via the JTAG interface. The Internal
Scan Chain and Break Point Scan Chain are used for On-chip debugging only.
24.3
TAP – Test Access Port
The JTAG interface is accessed through four of the AVR’s pins. In JTAG terminology, these pins
constitute the Test Access Port – TAP. These pins are:
TMS: Test mode select. This pin is used for navigating through the TAP-controller state
machine
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MQ80C52TXXX-16SB | 8-BIT, MROM, 16 MHz, MICROCONTROLLER, CQFP44 |
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| MQ80C32-12SHXXX:D | 8-BIT, 12 MHz, MICROCONTROLLER, CQFP44 |
| MR83C154DXXX-16P883D | 8-BIT, MROM, 16 MHz, MICROCONTROLLER, CQCC44 |
| MR80C32-36/883 | 8-BIT, 36 MHz, MICROCONTROLLER, CQCC44 |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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| MD80C51BH | 制造商:ROCHESTER 制造商全稱:ROCHESTER 功能描述:CMOS SINGLE - CHIP 8-BIT MICROCOMPUTER 64K program Memory Space |
| MD80C51FB | 制造商:Rochester Electronics LLC 功能描述: |
| MD80C86 | 制造商:INTERSIL 制造商全稱:Intersil Corporation 功能描述:CMOS 16-Bit Microprocessor |
| MD80C862 | 制造商:Intel 功能描述:PROCESSOR:MICRO-PROCESSOR |
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