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參數(shù)資料
| 型號： | MCHC912B32VFUE8 |
| 廠商： | Freescale Semiconductor |
| 文件頁數(shù)： | 4/334頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC MCU 32K FLASH 8MHZ 80-QFP |
| 標準包裝： | 84 |
| 系列： | HC12 |
| 核心處理器： | CPU12 |
| 芯體尺寸： | 16-位 |
| 速度： | 8MHz |
| 連通性： | SCI，SPI |
| 外圍設(shè)備： | POR，PWM，WDT |
| 輸入/輸出數(shù)： | 63 |
| 程序存儲器容量： | 32KB（32K x 8） |
| 程序存儲器類型： | 閃存 |
| EEPROM 大小： | 768 x 8 |
| RAM 容量： | 1K x 8 |
| 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： | A/D 8x10b |
| 振蕩器型： | 外部 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 105°C |
| 封裝/外殼： | 80-QFP |
| 包裝： | 托盤 |
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FLASH EEPROM Registers
M68HC12B Family Data Sheet, Rev. 9.1
Freescale Semiconductor
101
GADR — Gate/Drain Stress Test Select Bit
0 = Selects the drain stress circuitry
1 = Selects the gate stress circuitry
HVT — Stress Test High Voltage Status Bit
0 = High voltage not present during stress test
1 = High voltage present during stress test
FENLV — Enable Low Voltage Bit
0 = Disables low voltage transistor in current reference circuit
1 = Enables low voltage transistor in current reference circuit
FDISVFP — Disable Status VFP Voltage Lock Bit
When the VFP pin is below normal programming voltage, the FLASH module will not allow writing to
the LAT bit; the user cannot erase or program the FLASH module. The FDISVFP control bit enables
writing to the LAT bit regardless of the voltage on the VFP pin.
0 = Enable the automatic lock mechanism if VFP is low.
1 = Disable the automatic lock mechanism if VFP is low.
VTCK — VT Check Test Enable Bit
When VTCK is set, the FLASH EEPROM module uses the VFP pin to control the control gate voltage;
the sense amp timeout path is disabled. This allows for indirect measurements of the bit cells’ program
and erase threshold. If VFP < VZBRK (breakdown voltage), the control gate will equal the VFP voltage.
If VFP > VZBRK, the control gate will be regulated by this equation:
Control gate voltage = VZBRK + 0.44 × (VFP VZBRK)
0 = VT test disable
1 = VT test enable
STRE — Spare Test Row Enable Bit
The spare test row consists of one FLASH EEPROM array row. The spare test row is reserved and
contains production test information which must be maintained through several erase cycles. When
STRE is set, the decoding for the spare test row overrides the address lines which normally select the
other rows in the array.
0 = LIB accesses are to the FLASH EEPROM array.
1 = Spare test row in array enabled if SMOD is active
MWPR — Multiple Word Programming Bit
Used primarily for testing, if MPWR = 1, the two least significant address lines, ADDR1 and ADDR0,
will be ignored when programming a FLASH EEPROM location. The word location addressed if
ADDR1 and ADDR0 = 00, along with the word location addressed if ADDR1 and ADDR0 = 10, will both
be programmed with the same word data from the programming latches. This bit should not be
changed during programming.
0 = Multiple word programming disabled
1 = Program 32 bits of data
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| MCHC912B32VFUE8 | 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:Microcontroller |
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| MCHDS-08 | 制造商:SPC Multicomp 功能描述:SWITCH DIL 1/2 PITCH SMD 8 WAY |
| MCHDS-08-T | 制造商:SPC Multicomp 功能描述:SWITCH DIL 1/2 PITCH SMD 8WAY 制造商:SPC Multicomp 功能描述:SWITCH, 8 WAY, SPST, FLUSH 制造商:SPC Multicomp 功能描述:SWITCH, 8 WAY, SPST, FLUSH; Switch Type:DIP; Contact Configuration:SPST-CO; No. of Switch Positions:8; Actuator Style:Top; Pitch Spacing:1.27mm; Contact Current DC Max:25mA; Switch Mounting:SMD; SVHC:No SVHC (19-Dec-2012); Contact ;RoHS Compliant: Yes 制造商:SPC Multicomp 功能描述:SWITCH, 8 WAY, SPST, FLUSH; Switch Type:DIP; Contact Configuration:SPST-CO; No. of Switch Positions:8; Actuator Style:Top; Pitch Spacing:1.27mm; Contact Current DC Max:25mA; Switch Mounting:SMD; Contact Plating:Gold Plated over ;RoHS Compliant: Yes |
| MCHFHPE01BK | 功能描述:汽車連接器 MCH FML HOLDER CONN. RoHS:否 制造商:Amphenol SINE Systems 產(chǎn)品:Contacts 系列:ATP 位置數(shù)量: 型式:Female 安裝風(fēng)格: 端接類型: 觸點電鍍:Nickel |
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