參數(shù)資料
型號(hào)： LA4128V-75TN144E
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁數(shù)： 17/42頁
文件大小： 0K
描述： IC CPLD 128MACROCELLS 144TQFP
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 60
系列： LA-ispMACH
可編程類型： 系統(tǒng)內(nèi)可編程
最大延遲時(shí)間 tpd(1)： 7.5ns
電壓電源 - 內(nèi)部： 3 V ~ 3.6 V
宏單元數(shù)： 128
輸入/輸出數(shù)： 96
工作溫度： -40°C ~ 125°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 144-LQFP
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 144-TQFP（20x20）
包裝： 托盤
Lattice Semiconductor
LA-ispMACH 4000V/Z Automotive Family Data Sheet
24
Boundary Scan Waveforms and Timing Specications
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Units
tBTCP
TCK [BSCAN test] clock cycle
40
—
ns
tBTCH
TCK [BSCAN test] pulse width high
20
—
ns
tBTCL
TCK [BSCAN test] pulse width low
20
—
ns
tBTSU
TCK [BSCAN test] setup time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN test] hold time
10
—
ns
tBRF
TCK [BSCAN test] rise and fall time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
tBTOZ
TAP controller falling edge of clock to data output disable
—
10
ns
tBTVO
TAP controller falling edge of clock to data output enable
—
10
ns
tBTCPSU
BSCAN test Capture register setup time
8
—
ns
tBTCPH
BSCAN test Capture register hold time
10
—
ns
tBTUCO
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
tBTUOZ
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output disable
—
25
ns
tBTUOV
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output enable
—
25
ns
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PDF描述
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LA4128ZC-75TN128E 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:3.3V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High Density PLDs
LA4128ZC-75TN144E 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:3.3V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High Density PLDs
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