FN6627.4 June 10, 2010 Test Circuits and Waveforms Logic input waveform is inverted for switches that have the opposite logic sense. FIGURE 1A. " />
參數資料
型號： ISL54209EVAL1Z
廠商： Intersil
文件頁數： 18/19頁
文件大?。?/td> 0K
描述： EVALUATION BOARD FOR ISL54209
標準包裝： 1
主要目的： 接口，模擬和數字式開關
嵌入式： 否
已用 IC / 零件： ISL54209
主要屬性： 2 x SPDT 音頻和 USB 開關
次要屬性： 2.5 V ~ 5 V 電源
已供物品： 板
8
FN6627.4
June 10, 2010
Test Circuits and Waveforms
Logic input waveform is inverted for switches that have the
opposite logic sense.
FIGURE 1A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 1B. TEST CIRCUIT
FIGURE 1. SWITCHING TIMES
FIGURE 2A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 2B. TEST CIRCUIT
FIGURE 2. BREAK-BEFORE-MAKE TIME
FIGURE 3. AUDIO rON TEST CIRCUIT
FIGURE 4. USB rON TEST CIRCUIT
50%
tr < 20ns
tf < 20ns
tOFF
90%
VINH
0V
VINPUT
VINL
tON
LOGIC
INPUT
SWITCH
INPUT
SWITCH
OUTPUT
90%
VOUT
VOUT
V(INPUT)
RL
RL rON
+
------------------------
=
SWITCH
INPUT
VIN
VOUT
RL
CL
COMx
AUDIO OR USB
IN
50
Ω
10pF
GND
VDD
C
CTRL
VINPUT
90%
VINH
VINL
tD
LOGIC
INPUT
SWITCH
OUTPUT
0V
VOUT
VIN
IN
COMx
RL
CL
VOUT
10pF
50
Ω
D- OR D+
L OR R
VDD
GND
VINPUT
C
CTRL
VDD
C
0V OR FLOAT
L OR R
COMx
IN
GND
VL OR VR
V1
rON = V1/40mA
40mA
Repeat test for all switches.
CTRL
VDD
C
VDD
D- OR D+
COMx
IN
GND
VD- OR VD+
V1
rON = V1/40mA
40mA
Repeat test for all switches.
CTRL
ISL54209
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PDF描述
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參數描述
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