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參數(shù)資料
| 型號： | GS880F18T-14T |
| 廠商： | GSI TECHNOLOGY |
| 元件分類： | SRAM |
| 英文描述： | 512K X 18 CACHE SRAM, 14 ns, PQFP100 |
| 封裝： | TQFP-100 |
| 文件頁數(shù)： | 4/22頁 |
| 文件大小： | 310K |
| 代理商： | GS880F18T-14T |
Rev: 1.06 9/2000
12/22
2000, Giga Semiconductor, Inc.
Specifications cited are subject to change without notice. For latest documentation see http://www.gsitechnology.com.
Preliminary
GS880F18/36T-11/11.5/12/14/18
Notes:
1. Include scope and jig capacitance.
2. Test conditions as specified with output loading as shown in Fig. 1 unless otherwise noted.
3. Output Load 2 for tLZ, tHZ, tOLZ and tOHZ
4. Device is deselected as defined by the Truth Table.
AC Test Conditions
Parameter
Conditions
Input high level
2.3 V
Input low level
0.2 V
Input slew rate
1 V/ns
Input reference level
1.25 V
Output reference level
1.25 V
Output load
Fig. 1& 2
DC Electrical Characteristics
Parameter
Symbol
Test Conditions
Min
Max
Input Leakage Current
(except mode pins)
IIL
VIN = 0 to VDD
–1 uA
1 uA
ZZ Input Current
IINZZ
VDD ≥ VIN ≥ VIH
0 V
≤ V
IN ≤ V
IH
–1 uA
1 uA
300 uA
Mode Pin Input Current
IINM
VDD ≥ VIN ≥ VIL
0 V
≤ V
IN ≤ V
IL
–300 uA
–1 uA
1 uA
Output Leakage Current
IOL
Output Disable,
VOUT = 0 to VDD
–1 uA
1 uA
Output High Voltage
VOH
IOH = – mA, VDDQ = 2.375 V
1.7 V
—
Output High Voltage
VOH
IOH = – mA, VDDQ = 3.135 V
2.4 V
—
Output Low Voltage
VOL
IOL = mA
—
0.4 V
DQ
VT = 1.25 V
50
30pF*
DQ
2.5 V
Output Load 1
Output Load 2
225
225
5pF*
* Distributed Test Jig Capacitance
相關(guān)PDF資料 |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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| GS880F32AT-6.5I | 制造商:GSI 制造商全稱:GSI Technology 功能描述:512K x 18, 256K x 32, 256K x 36 8Mb Sync Burst SRAMs |
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