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參數(shù)資料
| 型號： | GS832236AB-150VT |
| 廠商： | GSI TECHNOLOGY |
| 元件分類： | SRAM |
| 英文描述： | 1M X 36 CACHE SRAM, 7.5 ns, PBGA119 |
| 封裝： | 14 X 22 MM, 1.27 MM PITCH, FPBGA-119 |
| 文件頁數(shù)： | 31/36頁 |
| 文件大?。?/td> | 790K |
| 代理商： | GS832236AB-150VT |
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GS832218/36A(B/D)-xxxV
Specifications cited are subject to change without notice. For latest documentation see http://www.gsitechnology.com.
Rev: 1.00a 2/2011
4/36
2011, GSI Technology
Preliminary
GS832218/36AD-xxxV 165-Bump BGA Pin Description
Symbol
Type
Description
A0, A1
I
Address field LSBs and Address Counter Preset Inputs
An
I
Address Inputs
DQA
DQB
DQC
DQD
I/O
Data Input and Output pins
BA, BB, BC, BD
I
Byte Write Enable for DQA, DQB, DQC, DQD I/Os; active low (x36 Version)
CK
I
Clock Input Signal; active high
BW
I
Byte Write—Writes all enabled bytes; active low
GW
I
Global Write Enable—Writes all bytes; active low
E1
I
Chip Enable; active low
E3
I
Chip Enable; active low
E2
I
Chip Enable; active high
G
I
Output Enable; active low
ADV
I
Burst address counter advance enable; active l0w
ADSC, ADSP
I
Address Strobe (Processor, Cache Controller); active low
ZZ
I
Sleep mode control; active high
FT
I
Flow Through or Pipeline mode; active low
LBO
I
Linear Burst Order mode; active low
ZQ
I
FLXDrive Output Impedance Control (Low = Low Impedance [High Drive], High = High Impedance [Low
Drive])
TMS
I
Scan Test Mode Select
TDI
I
Scan Test Data In
TDO
O
Scan Test Data Out
TCK
I
Scan Test Clock
MCL
—
Must Connect Low
SCD
—
Single Cycle Deselect/Dual Cyle Deselect Mode Control
VDD
I
Core power supply
VSS
I
I/O and Core Ground
VDDQ
I
Output driver power supply
NC
—
No Connect
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PDF描述 |
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