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參數(shù)資料
| 型號： | CY7C1518V18-300BZXC |
| 廠商： | CYPRESS SEMICONDUCTOR CORP |
| 元件分類： | DRAM |
| 英文描述： | 72-Mbit DDR-II SRAM 2-Word Burst Architecture |
| 中文描述： | 4M X 18 DDR SRAM, 0.45 ns, PBGA165 |
| 封裝： | 15 X 17 MM, 1.40 MM HEIGHT, LEAD FREE, MO-216, FBGA-165 |
| 文件頁數(shù)： | 15/28頁 |
| 文件大?。?/td> | 457K |
| 代理商： | CY7C1518V18-300BZXC |
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CY7C1516V18
CY7C1527V18
CY7C1518V18
CY7C1520V18
Document #: 38-05563 Rev. *D
Page 15 of 28
TAP Controller Block Diagram
TAP Electrical Characteristics
Over the Operating Range
[16, 18, 11]
Parameter
V
OH1
V
OH2
V
OL1
V
OL2
V
IH
V
IL
I
X
Description
Test Conditions
I
OH
=
2.0 mA
I
OH
=
100
μ
A
I
OL
= 2.0 mA
I
OL
= 100
μ
A
Min.
1.4
1.6
Max.
Unit
V
V
V
V
V
V
μ
A
Output HIGH Voltage
Output HIGH Voltage
Output LOW Voltage
Output LOW Voltage
Input HIGH Voltage
Input LOW Voltage
Input and OutputLoad Current
0.4
0.2
0.65 V
DD
–0.3
5
V
DD
+ 0.3
0.35 V
DD
5
GND
≤
V
I
≤
V
DD
TAP AC Switching Characteristics
Over the Operating Range
[12, 13]
Parameter
t
TCYC
t
TF
t
TH
t
TL
Notes:
11. These characteristics pertain to the TAP inputs (TMS, TCK, TDI and TDO). Parallel load levels are specified in the Electrical Characteristics Table.
12.t
and t
refer to the set-up and hold time requirements of latching data from the boundary scan register.
13.Test conditions are specified using the load in TAP AC test conditions. t
R
/t
F
= 1 ns.
Description
Min.
50
Max.
Unit
ns
MHz
ns
ns
TCK Clock Cycle Time
TCK Clock Frequency
TCK Clock HIGH
TCK Clock LOW
20
20
20
0
0
1
2
.
.
29
30
31
Boundary Scan Register
Identification Register
0
1
2
.
.
.
.
106
0
1
2
Instruction Register
Bypass Register
Selection
Circuitry
Selection
Circuitry
TAP Controller
TDI
TDO
TCK
TMS
[+] Feedback
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| CY7C1518V18-300BZXI | 72-Mbit DDR-II SRAM 2-Word Burst Architecture |
| CY7C1520V18-167BZC | 72-Mbit DDR-II SRAM 2-Word Burst Architecture |
| CY7C1520V18-167BZI | 72-Mbit DDR-II SRAM 2-Word Burst Architecture |
| CY7C1527V18-200BZXI | 72-Mbit DDR-II SRAM 2-Word Burst Architecture |
| CY7C1527V18-250BZC | 72-Mbit DDR-II SRAM 2-Word Burst Architecture |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| CY7C1518XC | 制造商:Cypress Semiconductor 功能描述: |
| CY7C1518YC | 制造商:Cypress Semiconductor 功能描述: |
| CY7C1518ZC | 制造商:Cypress Semiconductor 功能描述: |
| CY7C1520AV18-200BZC | 功能描述:靜態(tài)隨機存取存儲器 2M x 36 1.8V DDR II 靜態(tài)隨機存取存儲器 RoHS:否 制造商:Cypress Semiconductor 存儲容量:16 Mbit 組織:1 M x 16 訪問時間:55 ns 電源電壓-最大:3.6 V 電源電壓-最小:2.2 V 最大工作電流:22 uA 最大工作溫度:+ 85 C 最小工作溫度:- 40 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:TSOP-48 封裝:Tray |
| CY7C1520AV18-200BZCT | 功能描述:IC SRAM 72MBIT 200MHZ 165TFBGA RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 存儲器 系列:- 產(chǎn)品變化通告:Product Discontinuation 26/Apr/2010 標(biāo)準(zhǔn)包裝:136 系列:- 格式 - 存儲器:RAM 存儲器類型:SRAM - 同步，DDR II 存儲容量:18M（1M x 18） 速度:200MHz 接口:并聯(lián) 電源電壓:1.7 V ~ 1.9 V 工作溫度:0°C ~ 70°C 封裝/外殼:165-TBGA 供應(yīng)商設(shè)備封裝:165-CABGA（13x15） 包裝:托盤 其它名稱:71P71804S200BQ |
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